[发明专利]一种大尺寸SAR天线装配测量方法有效
申请号: | 202110557495.8 | 申请日: | 2021-05-21 |
公开(公告)号: | CN113219426B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 毛喆;柴艳红;苏永胜;李源;孙瑞峰;朱士琦 | 申请(专利权)人: | 上海航天电子通讯设备研究所 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 贺姿;胡晶 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 尺寸 sar 天线 装配 测量方法 | ||
1.一种大尺寸SAR天线装配测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:SAR天线骨架安装面测量及分析;
所述步骤S1进一步包括:
S11:SAR天线骨架安装面测量;
首先对每个骨架安装面进行编号,编号为1~I,然后采用数字化测量设备对每个骨架安装面采集J个测量点,J≥4,对测量点进行编号,最后将测量点与骨架安装面编号形成一一映射关系,并将测量点存入数据矩阵K中,数据矩阵K如公式(1):
Pij表示第i个骨架安装面上的第j个测量点,i=1~I,j=1~J;
S12:测量数据分析;
读取数据矩阵K中的测量数据,采用公式(2)将所有测量点Pij拟合为平面Plane0并计算平面度,公式(2)如下:
若平面度满足SAR天线子阵装配要求,则无需对SAR天线骨架安装面进行补偿,否则计算SAR天线骨架安装面的装配补偿量;
S13:输出各SAR天线骨架安装面的装配补偿量,指导SAR天线的装配;
S2:SAR天线子阵安装面测量及分析;
所述步骤S2进一步包括:
S21:对SAR子阵每一安装面进行编号,编号为1~M,采用数字化测量设备在SAR子阵每一安装面上采集G个测量点PZmg,m=1~M,g=1~G;
S22:将测量点PZmg利用公式(2)拟合为平面PlaneZ,计算该平面法向NZ;
S23:将测量点投影至PlaneZ,计算测量点与投影点间的距离DZmg;
S24:计算出DZmg最小值DZ,将PlaneZ沿法向NZ正方向偏置||DZ||获得偏置平面PlaneZP,以偏置后的平面PlaneZP作为补偿量计算的基准面;
S25:采用公式(6)计算每一子阵安装面上的测量点的平均点,计算出平均点到基准面PlaneZP的距离作为每一子阵安装面的补偿量,公式(6)如下:
S26:输出各SAR天线子阵安装面的装配补偿量,指导SAR天线的装配;
S3:SAR天线子阵装配后复测及微调;
所述步骤S3进一步包括:
S31:子阵装配至骨架后,采用数字化测量设备在每一子阵安装脚附近采集L个测量点;
S32:将测量点拟合为平面PlaneF,计算拟合面法向NF,计算拟合平面的平面度,若平面度不满足设计要求,则执行下一步,否则产品装配结束;
S33:将测量点投影至拟合平面PlaneF,计算测量点与投影点间距离DFl,l=1~L;
S34:找出距离||DFl||较大点,并在该点附近的安装脚上补偿||DFl||,若DFl为正需加垫,反之需减垫或修搓。
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