[发明专利]一种大尺寸SAR天线装配测量方法有效

专利信息
申请号: 202110557495.8 申请日: 2021-05-21
公开(公告)号: CN113219426B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 毛喆;柴艳红;苏永胜;李源;孙瑞峰;朱士琦 申请(专利权)人: 上海航天电子通讯设备研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 贺姿;胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 尺寸 sar 天线 装配 测量方法
【权利要求书】:

1.一种大尺寸SAR天线装配测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1:SAR天线骨架安装面测量及分析;

所述步骤S1进一步包括:

S11:SAR天线骨架安装面测量;

首先对每个骨架安装面进行编号,编号为1~I,然后采用数字化测量设备对每个骨架安装面采集J个测量点,J≥4,对测量点进行编号,最后将测量点与骨架安装面编号形成一一映射关系,并将测量点存入数据矩阵K中,数据矩阵K如公式(1):

Pij表示第i个骨架安装面上的第j个测量点,i=1~I,j=1~J;

S12:测量数据分析;

读取数据矩阵K中的测量数据,采用公式(2)将所有测量点Pij拟合为平面Plane0并计算平面度,公式(2)如下:

若平面度满足SAR天线子阵装配要求,则无需对SAR天线骨架安装面进行补偿,否则计算SAR天线骨架安装面的装配补偿量;

S13:输出各SAR天线骨架安装面的装配补偿量,指导SAR天线的装配;

S2:SAR天线子阵安装面测量及分析;

所述步骤S2进一步包括:

S21:对SAR子阵每一安装面进行编号,编号为1~M,采用数字化测量设备在SAR子阵每一安装面上采集G个测量点PZmg,m=1~M,g=1~G;

S22:将测量点PZmg利用公式(2)拟合为平面PlaneZ,计算该平面法向NZ;

S23:将测量点投影至PlaneZ,计算测量点与投影点间的距离DZmg

S24:计算出DZmg最小值DZ,将PlaneZ沿法向NZ正方向偏置||DZ||获得偏置平面PlaneZP,以偏置后的平面PlaneZP作为补偿量计算的基准面;

S25:采用公式(6)计算每一子阵安装面上的测量点的平均点,计算出平均点到基准面PlaneZP的距离作为每一子阵安装面的补偿量,公式(6)如下:

S26:输出各SAR天线子阵安装面的装配补偿量,指导SAR天线的装配;

S3:SAR天线子阵装配后复测及微调;

所述步骤S3进一步包括:

S31:子阵装配至骨架后,采用数字化测量设备在每一子阵安装脚附近采集L个测量点;

S32:将测量点拟合为平面PlaneF,计算拟合面法向NF,计算拟合平面的平面度,若平面度不满足设计要求,则执行下一步,否则产品装配结束;

S33:将测量点投影至拟合平面PlaneF,计算测量点与投影点间距离DFl,l=1~L;

S34:找出距离||DFl||较大点,并在该点附近的安装脚上补偿||DFl||,若DFl为正需加垫,反之需减垫或修搓。

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