[发明专利]转轴调试方法与调试组件有效
申请号: | 202110557596.5 | 申请日: | 2021-05-21 |
公开(公告)号: | CN113324514B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 李朝阳;耿继宝;杨兴宇;王超;安宁 | 申请(专利权)人: | 安徽创谱仪器科技有限公司 |
主分类号: | G01C1/02 | 分类号: | G01C1/02;G01B11/26;G01B11/00 |
代理公司: | 合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109 | 代理人: | 汤茂盛;黄巾 |
地址: | 230000 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转轴 调试 方法 组件 | ||
1.一种转轴调试方法,包括如下步骤:
A、连接调试组件(10)与转轴(20),使调试组件(10)中平面镜(11)的镜面与转轴(20)的回转轴芯垂直;
B、将转轴(20)装配在仪器的安装位,调试转轴(20)的安装姿态,使平面镜(11)的镜面位于参考位,则转轴(20)的回转轴芯位于与平面镜(11)镜面垂直的目标位,完成转轴(20)的调试;
转轴(20)的回转轴芯目标位为与铅直线平行时,具体包括如下步骤,
B1、保持调试组件10与转轴(20)的连接状态,将转轴(20)装配在仪器的安装位;
B2、在转轴(20)的周向间隔设置三个经纬仪(40)并在经纬仪(40)的对侧设置参考板(50);
B3、将经纬仪(40)调试水平后,使经纬仪(40)的指示光越过平面镜(11)的镜面并直接照射在对应的参考板(50)上,调节经纬仪(40)的俯仰角,根据指示光在参考板(50)上的移动路径确定直线状靶标(51);
B4、调节经纬仪(40)使其指示光经平面镜(11)反射后抵达对应的参考板(50)并照射在靶标(51)附近;
B5、调试转轴(20)的安装姿态,使各经纬仪(40)的俯仰角变化时,其指示光邻近靶标(51)或与靶标(51)重合,且指示光在对应参考板(50)上的移动路径与靶标(51)平行;
B6、旋转转轴(20)观察各经纬仪(40)指示光反射在参考板(50)上的光斑是否发生位移,
若光斑移位,回到步骤B5;
若光斑维持原位,完成调试。
2.根据权利要求1所述的转轴调试方法,其特征在于:所述的步骤A包括如下步骤,
A1、连接调试组件(10)与转轴(20),使平面镜(11)的镜面与转轴(20)的回转轴芯处于目视垂直位;
A2、将转轴(20)安装在基准平台上,并使自准直仪(30)的前端光管指向平面镜(11),自准直仪(30)出射的准直光经平面镜(11)反射后返回自准直仪(30);
A3、驱使转轴(20)绕其回转中心转动,调节调试组件(10)来调整平面镜(11)的姿态,使自准直仪(30)的出射准直光和反射准直光在转轴(20)旋转过程中的偏差值在限定范围内。
3.根据权利要求2所述的转轴调试方法,其特征在于:所述的步骤A3中,自准直仪(30)的出射准直光和反射准直光在转轴(20)旋转过程中的偏差值小于等于限定值时,认定平面镜(11)的镜面垂直于转轴(20)的回转轴芯。
4.根据权利要求2所述的转轴调试方法,其特征在于:所述的步骤A1中,平面镜(11)安装在转轴(20)的一端,所述的步骤A2中,转轴(20)、自准直仪(30)安装在水平基准平台上。
5.根据权利要求1所述的转轴调试方法,其特征在于:所述的步骤B6中,若指示光反射在参考板(50)上的光斑位置在转轴(20)旋转时位置无变化,进入步骤C,
根据光斑的位移量,计算获得转轴(20)的装配偏差角度,
测量指示光反射在参考板(50)上的光斑与靶标(51)的水平间距d、指示光自反射点位至参考板(50)的距离r,代入下式求得平面镜(11)水平方向偏差角θ,转轴(20)竖直方向偏差角θ'=θ,
6.根据权利要求5所述的转轴调试方法,其特征在于:平面镜(11)的镜面参考位为水平面,转轴(20)的回转轴芯目标位为与铅直线平行;
所述的步骤B2中,在转轴(20)的周向等角度设置三个经纬仪(40),参考板(50)与转轴(20)的间距大于3m,
所述的步骤B3、B4中,三个经纬仪(40)的指示光线投影在水平面上的交点数量大于1;
所述的步骤C中,测量指示光反射在参考板(50)上的光斑与平面镜(11)镜面的竖直间距h和平面镜(11)与参考板(50)的水平间距l,得到指示光自反射点位至参考板(50)的距离
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