[发明专利]一种绝缘检测系统及绝缘检测方法

说明书

本申请公开了一种绝缘检测系统及绝缘检测方法，其中，所述绝缘检测系统利用第一电压测量部和第二电压测量部实现第一采样电压、第二采样电压、第三采样电压和第四采样电压的获取，并结合第一采样电压和第三采样电压的大小关系，可根据弥尔曼定理，利用所述第一采样电压和第三采样电压的组合或第二采样电压和第四采样电压的组合可计算所述高压系统的绝缘电阻，从而实现对包括一个或两个以上高压设备的高压系统的绝缘检测，且计算过程采用第一采样电压和第三采样电压的组合或第二采样电压和第四采样电压的组合，避免了第一电阻阻值过大对绝缘检测精度的不良影响，提高了绝缘检测精度。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，更具体地说，涉及一种绝缘检测系统及绝缘检测方法。

背景技术

高压设备通常是指电压等级在1000V以上的电气设备，一般高压系统中包括至少一个高压设备。高压系统的绝缘检测结果是判断高压系统是否安全、正常运行的重要标准。

目前市面上的绝缘检测系统的检测电路模型大都与如图1所示的框架类似，该模型不适用于多个高压设备的高压系统，且绝缘检测精度较差。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供了一种绝缘检测系统及绝缘检测方法，以实现适用于对包括多个高压设备的高压系统进行绝缘检测，同时提高绝缘检测精度的目的。

为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：

一种绝缘检测系统，用于测量高压系统的绝缘电阻，所述高压系统包括至少一个高压设备，所述高压设备包括正端和负端，所述正端和所述负端之间包括绝缘电阻参考点，所述绝缘电阻参考点与所述正端和所述负端之间均包括第一电阻，所述绝缘检测系统包括：第一电压测量部和第二电压测量部；其中，

所述第一电压测量部包括第一测量电阻，所述第一电压测量部还包括第一状态和第二状态，当所述第一电压测量部处于第一状态时，所述第一电压测量部用于获取第一采样电压，所述第一采样电压与所述高压设备的正端与绝缘电阻参考点之间的电压差正相关；当所述第一电压测量部处于第二状态时，所述第一测量电阻与一个所述高压设备的第一电阻并联，所述第一电压测量部用于获取第二采样电压，所述第二采样电压和与所述第一测量电阻并联后的第一电阻两端的电压差正相关；

所述第二电压测量部包括第二测量电阻，所述第二电压测量部还包括第三状态和第四状态，当所述第二电压测量部处于第三状态时，所述第二电压测量部用于获取第三采样电压，所述第三采样电压与所述高压设备的负端与所述绝缘电阻参考点之间的电压差正相关；当所述第二电压测量部处于第四状态时，所述第二测量电阻与一个所述高压设备的第一电阻并联，所述第二电压测量部用于获取第四采样电压，所述第四采样电压和与所述第二测量电阻并联后的第一电阻两端的电压差正相关。

可选的，所述第一电压测量部还包括：与所述第一测量电阻串联的第一开关，当所述第一开关断开时，所述第一电压测量部处于所述第一状态，当所述第一开关闭合时，所述第一电压测量部处于所述第二状态；

所述第二电压测量部还包括：与所述第二测量电阻串联的第二开关，当所述第二开关断开时，所述第二电压测量部处于所述第三状态，当所述第二开关闭合时，所述第二电压测量部处于所述第四状态。

可选的，所述第一开关串接与所述第一测量电阻远离所述绝缘电阻参考点一端；

所述第二开关串接与所述第二测量电阻远离所述绝缘电阻参考点一端。

可选的，所述第一电压测量部还包括：第一采样电阻、第一分压电阻和采样隔离单元，所述第一采样电阻和所述第一分压电阻串接后构成第一采样支路，所述第一采样支路的一端与所述第一开关远离所述第一测量电阻的一端电连接，另一端与所述第一测量电阻远离所述第一开关的一端电连接；

所述采样隔离单元与所述第一采样电阻并联。