[发明专利]通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法有效

专利信息
申请号: 202110564181.0 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN113406401B 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 俞俊生;姚远;于海洋;陈雨晴;陈天洋;陈晓东 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R29/08;G01R25/00
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 项京;赵元
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 通过 透镜 平面 恢复 天线 测量 系统 相位 方法
【权利要求书】:

1.一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法,其特征在于,所述天线测量系统的静区平面中设置有介质透镜,所述方法包括:

计算机获得探头采集的所述介质透镜的至少两个预设离焦平面中的实际幅值;

生成初始相位以及初始幅值,将所述初始幅值和初始相位作为所述静区平面中目标区域内初始场的场强;

计算所述初始场经所述介质透镜后,进行角谱传输至所述至少两个预设离焦平面的频域相位;

计算机计算所述初始场经所述介质透镜后,进行角谱传输至所述至少两个预设离焦平面的频域幅值;分别将所述至少两个预设离焦平面的频域幅值和频域相位作为所述离焦平面频域场的场强;

基于所述频域场的场强,获取对应空域场的场强,所述空域场的场强包括空域幅值以及空域相位;将所述至少两个预设离焦平面中的实际幅值与空域相位作为所述离焦平面中实际场的场强;

基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强,将求解出的初始场的场强作为异构输入场的场强;所述异构输入场的场强包括异构输入相位以及异构输入幅值;

采用GS-HIO算法,对所述异构输入场的场强进行预设次数的迭代计算,得到目标恢复相位;

判断GS-HIO算法是否收敛,如果收敛,则将收敛时得到的目标恢复相位作为相位恢复结果;如果未收敛,则返回所述生成初始相位以及初始幅值,将所述初始幅值和初始相位作为所述静区平面中目标区域内初始场的场强的步骤。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强步骤之前,所述方法还包括:

基于所述实际幅值和所述空域幅值,计算所述实际幅值与空域幅值之间的幅值误差;

判断所述幅值误差是否大于预设阈值;

如果所述幅值误差不大于预设阈值,则将所述初始相位作为相位恢复结果;

如果所述幅值误差大于预设阈值,则执行所述基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强的步骤。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述实际幅值和所述空域幅值,计算所述实际幅值与空域幅值之间的幅值误差的步骤,包括:

按照如下公式计算所述幅值误差:

其中,i为所述预设离焦平面的编号,n为所述预设离焦平面的个数,|Aix|表示所述预设离焦平面空域场的空域幅值,|bi|表示所述预设离焦平面实际场的实际幅值。

4.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强的步骤,包括:

采用最小二乘法,基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强。

5.根据权利要求1所述方法,其特征在于,

所述采用GS-HIO算法,对所述异构输入场的场强进行预设次数的迭代计算,得到目标恢复相位的步骤,包括:

判断执行所述GS算法的次数是否达到第二预设次数;

若执行所述GS算法的次数未达到第二预设次数,则采用GS算法对所述异构输入场的场强进行迭代计算;

若执行所述GS算法的次数达到第二预设次数,则采用HIO算法对所述异构输入场的场强进行第三预设次数的迭代计算,得到恢复相位;

判断执行所述GS算法以及所述HIO算法的次数的和是否达到所述预设次数;

若执行所述GS算法以及所述HIO算法的次数的和达到所述预设次数,将所述恢复相位作为目标恢复相位;

若执行所述GS算法以及所述HIO算法的次数的和未达到所述预设次数,则返回所述判断执行所述GS算法的次数是否达到第二预设次数的步骤。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京邮电大学,未经北京邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110564181.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top