[发明专利]通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法有效
申请号: | 202110564181.0 | 申请日: | 2021-05-24 |
公开(公告)号: | CN113406401B | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 俞俊生;姚远;于海洋;陈雨晴;陈天洋;陈晓东 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R29/08;G01R25/00 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 项京;赵元 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 透镜 平面 恢复 天线 测量 系统 相位 方法 | ||
1.一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法,其特征在于,所述天线测量系统的静区平面中设置有介质透镜,所述方法包括:
计算机获得探头采集的所述介质透镜的至少两个预设离焦平面中的实际幅值;
生成初始相位以及初始幅值,将所述初始幅值和初始相位作为所述静区平面中目标区域内初始场的场强;
计算所述初始场经所述介质透镜后,进行角谱传输至所述至少两个预设离焦平面的频域相位;
计算机计算所述初始场经所述介质透镜后,进行角谱传输至所述至少两个预设离焦平面的频域幅值;分别将所述至少两个预设离焦平面的频域幅值和频域相位作为所述离焦平面频域场的场强;
基于所述频域场的场强,获取对应空域场的场强,所述空域场的场强包括空域幅值以及空域相位;将所述至少两个预设离焦平面中的实际幅值与空域相位作为所述离焦平面中实际场的场强;
基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强,将求解出的初始场的场强作为异构输入场的场强;所述异构输入场的场强包括异构输入相位以及异构输入幅值;
采用GS-HIO算法,对所述异构输入场的场强进行预设次数的迭代计算,得到目标恢复相位;
判断GS-HIO算法是否收敛,如果收敛,则将收敛时得到的目标恢复相位作为相位恢复结果;如果未收敛,则返回所述生成初始相位以及初始幅值,将所述初始幅值和初始相位作为所述静区平面中目标区域内初始场的场强的步骤。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强步骤之前,所述方法还包括:
基于所述实际幅值和所述空域幅值,计算所述实际幅值与空域幅值之间的幅值误差;
判断所述幅值误差是否大于预设阈值;
如果所述幅值误差不大于预设阈值,则将所述初始相位作为相位恢复结果;
如果所述幅值误差大于预设阈值,则执行所述基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强的步骤。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述实际幅值和所述空域幅值,计算所述实际幅值与空域幅值之间的幅值误差的步骤,包括:
按照如下公式计算所述幅值误差:
其中,i为所述预设离焦平面的编号,n为所述预设离焦平面的个数,|Aix|表示所述预设离焦平面空域场的空域幅值,|bi|表示所述预设离焦平面实际场的实际幅值。
4.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强的步骤,包括:
采用最小二乘法,基于所述实际场的场强和所述空域场的场强,计算所述初始场的场强。
5.根据权利要求1所述方法,其特征在于,
所述采用GS-HIO算法,对所述异构输入场的场强进行预设次数的迭代计算,得到目标恢复相位的步骤,包括:
判断执行所述GS算法的次数是否达到第二预设次数;
若执行所述GS算法的次数未达到第二预设次数,则采用GS算法对所述异构输入场的场强进行迭代计算;
若执行所述GS算法的次数达到第二预设次数,则采用HIO算法对所述异构输入场的场强进行第三预设次数的迭代计算,得到恢复相位;
判断执行所述GS算法以及所述HIO算法的次数的和是否达到所述预设次数;
若执行所述GS算法以及所述HIO算法的次数的和达到所述预设次数,将所述恢复相位作为目标恢复相位;
若执行所述GS算法以及所述HIO算法的次数的和未达到所述预设次数,则返回所述判断执行所述GS算法的次数是否达到第二预设次数的步骤。
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