[发明专利]调试方法、装置、系统及数据集生成方法、装置

说明书

本申请公开了一种调试方法、装置、系统及数据集生成方法、装置，具体涉及调试技术领域，其方法包括：获取调试数据集；基于所述调试数据集进行解析，获得至少一个与预设接口协议对应的待调试数据；利用所述待调试数据对待调试设备进行调试。通过从调试数据集中解析出至少一个与预设接口协议对应的待调试数据，之后将调试数据与待调试设备进行调试，从而通过获取调试数据集，实现对多个待调试设备的调试控制，以降低调试成本。

技术领域

本申请涉及调试技术领域，具体涉及一种调试方法、装置、系统及数据集生成方法、装置。

背景技术

在现有技术中，待调试设备基本都是通过JTAG、SWD、CJTAG等通信端口进行下载和调试,其调试过程需要与待调试设备的内核/设备本身进行信息交互；如图1所示，主机1与调试器2连接，调试器2与目标设备3使用接口协议进行数据传输，当目标设备是双核芯片时，用户需要同时对双核芯片中的2颗内核进行调试，而为完成设备调试需要连接两个调试器使用2个接口和接口协议进行对应调试；即在对多核待调试设备或同时针对多个单核待调试设备进行调试时，需要内核数量与调试装置数量对应，来实现对多核待调试设备或同时针对多个单核待调试设备的调试；因此，在对待单个调试设备进行调试时，随着对应调试装置地增加其调试成本也随之增加。

发明内容

针对上述技术问题，本申请提供一种调试方法、装置、系统及数据集生成方法、装置，以解决在现有调试技术中，在对待调试设备进行调试时，随着待调试设备增加调试装置对应增加，所导致调试成本增加的问题。

根据第一方面，本申请实施例提供一种调试方法，该方法包括：获取调试数据集，其中，所述调试数据集存储在调试主机中；基于所述调试数据集进行解析，获得至少一个与预设接口协议对应的待调试数据；利用所述待调试数据对待调试设备进行调试。

本实施例提供的调试方法，通过从调试数据集中解析出至少一个与预设接口协议对应的待调试数据，之后将调试数据与待调试设备进行调试，从而通过获取调试数据集，实现对多个待调试设备的调试控制，以降低调试成本。

结合第一方面，在第一方面的第一实施方式中，基于所述调试数据集进行解析，获得至少一个与预设接口协议对应的待调试数据，包括：基于所述调试数据集进行调试数据提取，获得预定义待调试数据；对所述预定义待调试数据进行数据转换得到所述待调试数据，其中，所述待调试数据包括：预设接口协议和待调试参数。

本实施例提供的调试方法，通过获取调试数据集，从调试数据集中解析出多个待调试数据，从而在不增调试装置的情况下，通过封装和解析调试数据，实现端口共用，从而节约调试成本。

结合第一方面的第一实施方式，在第一方面的第二实施方式中，基于所述调试数据集进行调试数据提取，获得预定义待调试数据，包括：获取所述调试数据集中待调试数据的存储标志位；根据所述存储标志位对待调试数据进行提取，获得预定义待调试数据。

本实施例提供的调试方法，通过在调试数据中设置存储标志位，以便于对调试数据的提取，进一步提高设备调试的执行效率。

结合第一方面的第二实施方式，在第一方面的第三实施方式中，所述对所述预定义待调试数据进行数据转换得到所述待调试数据，包括：将预定义待调试数据进行接口协议和调试参数解析，或，将预定义待调试数据按预定义顺序进行接口协议和调试参数解析，输出所述待调试数据。

本实施例提供的调试方法，通过将预定义待调试数据同时或按自定义顺序进行接口协议解析，以提高获取待调试数据效率便于后续对待调试数据的提取。

结合第一方面，在第一方面的第四实施方式中，所述利用所述待调试数据对待调试设备进行调试，还包括：当所述待调试数据中的预设接口协议与待调试设备的接口协议不匹配时，则调整所述待调试数据，重新与所述待调试设备的接口协议进行匹配。