[发明专利]一种不良品的统计管理方法以及系统

说明书

本发明公开了一种不良品的统计管理方法以及系统，其中不良品的统计管理方法包括：获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量。通过实施本实施例可以统计每道工序产生的不良品数量，为后续产品的改良提供数据支持，从而降低产品的不良率，降低产品的生产成本。

技术领域

本发明涉及电子器件加工的技术领域，尤其涉及一种不良品的统计管理方法以及系统。

背景技术

目前，对产品尤其是电子器件进行加工时，由于材料、加工设备、加工环境等等因素的影响，产品不可避免会出现加工失败的情况，因而产生不良品。

而一个产品需要经过多道工序加工，最终形成成品，在每道工序加工过程中均有可能加工失败，且同一型号的产品在同一道工序中频繁发生加工失败的问题，导致批量生产过程中同一型号的产品重复出现相同的不良品，产品的不良率较高，生产成本较高。

发明内容

本发明提供了一种不良品的统计管理方法以及系统，旨在解决批量生产中产品重复出现相同的不良品导致生产成本高的问题。

第一方面，本发明提供了一种不良品的统计管理方法，所述统计管理方法包括：

获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；

判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；

当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；

若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；

统计每道工序产生的不合格产品的数量。

进一步地，所述统计管理方法还包括：

当所述产品在当前工序中加工符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为正常。

进一步地，所述统计管理方法还包括：

若所述产品可维修，则调整所述加工信息中的当前工序为正常，并记录当前工序的维修信息。

进一步地，所述统计管理方法还包括：

统计每道工序记录有维修信息的产品的数量。

进一步地，所述统计管理方法还包括：

将所述产品信息与所述加工信息和所述维修信息相关联并存储到数据库中。

进一步地，所述加工工序包括：原材料加工、贴片加工、插件加工、涂层加工、产品测试和包装。

进一步地，所述加工信息还包括加工工序的先后顺序。

进一步地，所述统计管理方法还包括：将完成所有工序的产品判定为合格产品。

进一步地，扫描产品上的标识以获取所述标识对应的产品信息。

第二方面，本发明提供了一种不良品的统计管理系统，包括处理器，所述处理器用于执行如第一方面所述的统计管理方法，还包括：

获取单元，用于获取产品的产品信息；

加工检测单元，用于判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；

维修检测单元，用于判断所述产品是否可维修。