[发明专利]基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法及装置

权利要求书

1.基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1：校准光波元件分析仪；

步骤2：设置光波元件分析仪的参数；

步骤3：在光波元件分析仪中接入被测光纤，获得被测光纤的群时延τ_GD；

步骤4：利用获得的群时延τ_GD，和光速c及光纤折射率n计算被测光纤的长度L；

其中，步骤2设置的参数满足关系：Δf为频率跨度，p为测量点数，α为频点密度系数，L为光纤长度，c为光速，n为光纤折射率；

步骤4中，被测光纤的长度L采用下式获得：式中，τ_GD为被测光纤的群时延，c为光速，n为光纤折射率。

2.如权利要求1所述的基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法，其特征在于：所述步骤1包括：利用柔性射频电缆分别连接在微波信号发射接口与第一接口之间，和微波信号接收接口与第二接口之间，利用校准光纤连接光输出、光输入端口，校准光波元件分析仪。

3.如权利要求1所述的基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法，其特征在于：所述步骤2设置的参数包括中心频率、频率跨度Δf、测量点数p、光波长及光功率。

4.如权利要求1所述的基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法，其特征在于：所述步骤2中，频点密度系数α的取值范围为0.85≤α≤0.95。

5.如权利要求1所述的基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法，其特征在于：所述步骤3中，拆除校准光纤后将被测光纤接入光波元件分析仪完成群时延的测量。

6.如权利要求5所述的基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法，其特征在于：所述步骤3中，将被测光纤两端分别接入光波元件分析仪的光输入端口和光输出端口，启动光波元件分析仪测量群时延的值为τ_GD。

7.实现权利要求1-6任一项所述方法的测量装置，包括光波元件分析仪，光波元件分析仪具有处理模块。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于：所述光波元件分析仪具有微波信号发射接口、微波信号接收接口、第一接口和第二接口。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于：所述处理模块接收光波元件分析仪获得被测光纤的群时延τ_GD，光速c及光纤折射率n，计算被测光纤的长度L。