[发明专利]一种SiC MOSFET子模组单元及其压接型封装在审

专利信息
申请号: 202110572614.7 申请日: 2021-05-25
公开(公告)号: CN113380879A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 王来利;王海骅;马定坤;赵成 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: H01L29/417 分类号: H01L29/417;H01L29/43;H01L23/367;H01L23/49;H01L25/065
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 李鹏威
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 sic mosfet 模组 单元 及其 压接型 封装
【权利要求书】:

1.一种SiC MOSFET子模组单元,其特征在于,包括:

DBC陶瓷基板(1)、源极钼片(2)、SiCMOSFET芯片阵列(3)以及漏极钼片(4);

所述源极钼片(2)下表面对称设有N个第一凸起,所述第一凸起分别与N个SiCMOSFET芯片阵列(3)相连,并露出SiCMOSFET芯片阵列(3)的栅极(5)和部分源极(6);

所述漏极钼片(4)上表面设置有N个用于连接和定位SiCMOSFET芯片阵列(3)的第二凸起,第二凸起与所述SiCMOSFET芯片阵列(3)的漏极相连;

所述SiCMOSFET芯片阵列(3)由N个SiCMOSFET芯片组成,露出的栅极(5)和源极(6)分别连接至DBC陶瓷基板(1)。

2.根据权利要求1所述的一种SiC MOSFET子模组单元,其特征在于,所述第一凸起、第二凸起和SiCMOSFET芯片阵列(3)的数量均为4个、6个或8个。

3.根据权利要求1所述的一种SiC MOSFET子模组单元,其特征在于,所述第一凸起与SiCMOSFET芯片阵列(3)通过纳米银烧结相连。

4.根据权利要求1所述的一种SiC MOSFET子模组单元,其特征在于,所述第二凸起与SiCMOSFET芯片阵列(3)通过纳米银烧结相连。

5.根据权利要求1所述的一种SiC MOSFET子模组单元,其特征在于,所述栅极(5)和源极(6)通过键合线连接至DBC陶瓷基板(1)。

6.一种基于权利要求1-5任一项所述的SiC MOSFET子模组单元的压接型封装,其特征在于,包括:

源极端子(7)、外壳(8)、SiCMOSFET子模组单元(9)、漏极端子(10);

所述源极端子(7)和漏极端子(10)的外沿通过外壳(8)连接;

所述源极端子(7)下侧设置有若干源极凸台(11);

所述漏极端子(10)的上表面对应设置有若干漏极凸台(12);

每个所述源极凸台(11)与对应的漏极凸台(12)之间设置有一个SiCMOSFET子模组单元(9)。

7.根据权利要求6所述的一种基于SiC MOSFET子模组单元的压接型封装,其特征在于,所述源极凸台(11)与所述SiCMOSFET子模组单元(9)内的源极钼片(2)上表面相连,所述漏极凸台(12)与所述SiCMOSFET子模组单元(9)内的漏极钼片(4)下表面相连。

8.根据权利要求6所述的一种基于SiC MOSFET子模组单元的压接型封装,其特征在于,所述漏极凸台(12)与漏极钼片(4)下表面通过纳米银烧结相连。

9.根据权利要求6所述的一种基于SiC MOSFET子模组单元的压接型封装,其特征在于,所述外壳(8)内在漏极端子(10)一侧填充有硅凝胶,硅凝胶覆盖住SiCMOSFET阵列(3)。

10.根据权利要求6所述的一种基于SiC MOSFET子模组单元的压接型封装,其特征在于,所述漏极凸台(12)间隙中设置有PCB基板,在PCB基板一侧设置辅助源极端子和栅极端子,辅助源极端子和栅极端子通过键合线连接到DBC陶瓷基板(1)。

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