[发明专利]亮度调节方法及亮度调节装置、电子设备有效
申请号: | 202110575567.1 | 申请日: | 2021-05-26 |
公开(公告)号: | CN113284469B | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | 池宝林 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 唐秀萍 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 亮度 调节 方法 装置 电子设备 | ||
本发明提供了一种亮度调节方法及亮度调节装置、电子设备,该方法包括:获取待测面板在目标位置的位置信息,位置信息包括位置参数和与位置参数对应的实际亮度值和参考亮度值;判断实际亮度值和参考亮度值的第一差值是否小于第一阈值;若第一差值大于第一阈值,根据第一差值,确定目标位置的补偿参数;根据补偿参数和实际亮度值,确定待测面板在目标位置的目标亮度值。本方案根据实际亮度值和参考亮度值的第一差值,确定目标位置的补偿参数,以向目标位置加载和补偿参数相应的电信号,使得目标位置的子像素对应的正帧像素电压和负帧像素电压分别相对于公共电压之间的压差的差值的绝对值小于设定压差阈值,避免显示面板出现线残像不良的现象。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种亮度调节方法及亮度调节装置、电子设备。
背景技术
随着液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)的不断发展,大尺寸、高分辨率、高刷新率的液晶显示装置得到了人们的广泛关注。同时随着4K(3840*2160像素分辨率)和8K(7680*4320像素分辨率)等高解析度的发展,使得像素尺寸越来越小,同时显示面板开口率也会降低。
然而,由于显示面板的像素尺寸越来越小,显示面板内的上下两基板之间的电场密度响应也会增加,电场的相互作用增加,导致电场产生的离子的移动更为频繁及有方向性,使得面内电场发生变化,使得液晶分子偏转发生变化,进而导致液晶显示面板产生线残像。
因此,亟需一种亮度调节方法及亮度调节装置、电子设备,以改善显示面板的线残像,以提高显示面板的显示质量。
发明内容
本发明的目的在于提供一种亮度调节方法及亮度调节装置、电子设备,解决了现有的显示面板中由于面内电场发生变化导致显示画面出现线残像的技术问题。
本申请实施例提供一种亮度调节方法,应用于显示面板,包括:
获取待测面板在目标位置的位置信息,所述位置信息包括位置参数和与所述位置参数对应的实际亮度值和参考亮度值;
判断所述实际亮度值和所述参考亮度值的第一差值是否小于第一阈值;
若所述第一差值大于第一阈值,根据所述第一差值,确定所述目标位置的补偿参数;
根据所述补偿参数和所述实际亮度值,确定所述待测面板在所述目标位置的目标亮度值。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述获取待测面板在目标位置的位置信息的步骤包括:
扫描所述待测面板;
获取所述待测面板在目标位置的位置参数和与所述位置参数对应的实际亮度值和参考亮度值,所述实际亮度值和参考亮度值包括灰阶电压、像素电压或充电时间中的至少一者。
可选的,在本申请的一些实施例中,获取所述待测面板在目标位置的实际亮度值的步骤包括:
获取所述待测面板中所述位置参数对应的数据线的数据电压;
获取所述待测面板中所述目标位置的离子浓度偏移量;
获取所述待测面板中所述目标位置的充电时间;
根据所述数据电压、所述离子浓度偏移量以及所述充电时间中的至少一者确定所述实际亮度值。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述若所述第一差值大于第一阈值,根据所述第一差值,确定所述目标位置的补偿参数的步骤包括:
获取所述待测面板位于所述目标位置对应的子像素的实际像素电压;
根据所述第一差值和所述实际像素电压,确定所述待测面板在所述目标位置的所述实际像素电压的补偿值。
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