[发明专利]一种高精度的电子天平校准方法在审
申请号: | 202110582173.9 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113310561A | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 王丽娅;潘淑君 | 申请(专利权)人: | 杭州仙琚科技创新有限公司 |
主分类号: | G01G23/01 | 分类号: | G01G23/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310000 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 电子天平 校准 方法 | ||
本发明公开了一种高精度的电子天平校准方法,包括以下步骤:电子天平的清理,电子天平的调平,电子天平的预热,电子天平的校准,电子天平的验证和电子天平的重新校准,在校准时,按下校准键,进入校准模式,依次输入需要验证标准砝码的重量,清零后,依次取用标准砝码,关闭玻璃门进行称量,数据稳定后,电子天平自动记录数值,并校准到设置数值,全部称量完成后,按下校准键,此时,电子天平自动将每次记录的数值在垂直坐标系内进行标点,并拟合曲线,生成新的测量曲线,将零点的位置进行记录,完成校准。
技术领域
本发明涉及电子天平校准方法技术领域,具体是一种高精度的电子天平校准方法。
背景技术
电子天平是化学实验室当中较为常用的实验仪器,因为其有很高的精确度,所以在测量的药品的质量的时候能够精确到万分之一;因此能够有效的提高实验过程中实验的成功率;在对电子天平进行校准的时候,只是使用电子天平测量一次,很容易出现所测量出的数值出现很大的偏差,导致校准失败。因此,本发明提供了一种高精度的电子天平校准方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高精度的电子天平校准方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种高精度的电子天平校准方法,包括以下步骤:
S7:电子天平的清理:用镊子取出标准砝码并放置在干净的托盘上,用酒精对电子天平的称盘和标准砝码进行清洁,并使用润湿的滤纸进行擦拭,最后用吹风机吹干,去除粘附在上的固态药品和杂质;
S8:电子天平的调平:安装好称盘,将电子天平放置到水平的桌面上,然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止;
S9:电子天平的预热:用将电子天平开机,并关闭两侧的玻璃门,将电子天平归零,进行预热,预热的时间为30分钟;
S10:电子天平的校准:
3)按下校准键,进入校准模式,依次输入需要验证标准砝码的重量,清零后,依次取用标准砝码,关闭玻璃门进行称量,数据稳定后,电子天平自动记录数值,并校准到设置数值;
4)全部称量完成后,按下校准键,此时,电子天平自动将每次记录的数值在垂直坐标系内进行标点,并拟合曲线,生成新的测量曲线,将零点的位置进行记录,完成校准。
S11:电子天平的验证:清零后,放置标准砝码之间的相互组合并进行测量,看是否在合理范围内,是则校准完毕,不是则需要重新校准;
S12:电子天平的重新校准:将电子天平重新归零,依次取用标准砝码进行测量,确认差异较大的砝码,并去除,再重新进行上一步,进行电子天平的校准。
作为本发明进一步的方案,在取用砝码时,需要用镊子放置在称盘的中心。
作为本发明再进一步的方案,每次更换砝码时,重新进行清零。
作为本发明再进一步的方案,每次放置的套装砝码的重量依次上升。
作为本发明再进一步的方案,称量过程中,除放置砝码过程外,其余时间测试人员须远离电子天平,并站立不动,避免震动带来的影响。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明通过现有的发明进行校准,并利用电子天平本身的校正和清零功能,进行自动的校准,同时,可以分辨出重量有异的砝码,提高校准的正确性。
附图说明
图1为一种高精度的电子天平校准方法的流程图。
具体实施方式
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