[发明专利]选通器开关的仿真方法及系统

权利要求书

1.一种选通器开关的仿真方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：通过划分格点的方式建立选通器开关的二维模型；

S2：根据所述二维模型的参数计算银原子氧化概率、银离子还原概率、银离子迁移概率以及银原子扩散概率；

S3：根据所述银原子氧化概率、所述银离子还原概率、所述银离子迁移概率以及所述银原子扩散概率更新银原子在所述二维模型中的占位，以实现银原子的堆积和扩散；

所述步骤S2还包括初始化步骤，所述二维模型的参数包括氧化势垒、还原势垒、迁移势垒和扩散势垒，对所述二维模型进行初始化操作，以对所述氧化势垒、所述还原势垒、所述迁移势垒和所述扩散势垒进行赋值；

所述步骤S2还包括横坐标方向电场强度计算步骤，所述二维模型的参数还包括横坐标方向格点划分的尺度以及横坐标方向上目标格点相邻两个格点的电压值，根据所述横坐标方向格点划分的尺度以及所述横坐标方向上目标格点相邻两个格点的电压值通过迭代的计算方式计算所述目标格点在横坐标方向上的电场强度。

2.根据权利要求1所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述通过划分格点的方式建立选通器开关的二维模型包括通过动力学蒙特卡罗模拟方法采用划分格点的方式建立选通器开关的二维模型。

3.根据权利要求2所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述二维模型包括依次设置的底电极、阻变层和顶电极，所述底电极为掺铟的氧化锡薄膜，所述阻变层为卤素钙钛矿，所述顶电极为银。

4.根据权利要求1所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述步骤S2还包括纵坐标方向电场强度计算步骤，所述二维模型的参数还包括纵坐标方向格点划分的尺度以及纵坐标方向上目标格点相邻两个格点的电压值，根据所述纵坐标方向格点划分的尺度以及所述纵坐标方向上目标格点相邻两个格点的电压值通过迭代的计算方式计算所述目标格点在纵坐标方向上的电场强度。

5.根据权利要求1或4所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述步骤S2还包括热量计算步骤，所述二维模型的参数还包括目标格点的电压值、横坐标方向上所述目标格点相邻两个格点的电压值、横坐标方向上所述目标格点相邻两个格点横坐标方向上的电导值、纵坐标方向上所述目标格点相邻两个格点的电压值以及纵坐标方向上所述目标格点相邻两个格点的电导值，根据所述目标格点的电压值、所述横坐标方向上所述目标格点相邻两个格点的电压值、所述横坐标方向上所述目标格点相邻两个格点横坐标方向上的电导值、所述纵坐标方向上所述目标格点相邻两个格点的电压值以及所述纵坐标方向上所述目标格点相邻两个格点的电导值计算所述目标格点的热量。

6.根据权利要求5所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述步骤S2还包括热源计算步骤，根据所述目标格点的热量计算得到所述目标格点的热源。

7.根据权利要求6所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述步骤S2还包括温度计算步骤，所述二维模型的参数还包括横坐标方向格点划分的尺度，根据所述横坐标方向格点划分的尺度、所述目标格点的热源以及预设的热导系数计算得到所述目标格点的温度。

8.根据权利要求7所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述步骤S2还包括银原子氧化概率计算步骤，根据预设的银原子震动频率、预设的电场影响因子、预设的电子所带电荷值、预设的银离子所带电荷数量、预设的玻尔兹曼常数、所述电场强度、所述氧化势垒和所述目标格点的温度计算所述银原子氧化概率。

9.根据权利要求7所述的选通器开关的仿真方法，其特征在于，所述步骤S2还包括银离子还原概率计算步骤，根据预设的银离子震动频率、预设的电场影响因子、预设的电子所带电荷值、预设的银离子所带电荷数量、预设的玻尔兹曼常数、所述电场强度、所述还原势垒和所述目标格点的温度计算所述银离子还原概率。