[发明专利]UWB校准方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、姿态传感器、UWB芯片和UWB天线；

所述处理器分别与所述姿态传感器和所述UWB芯片连接；所述UWB芯片与所述UWB天线连接，所述UWB芯片根据所述UWB天线的信号计算待测物相对于所述电子设备的距离和角度，所述角度包括水平角度和垂直角度；

其中，所述处理器根据预先获取的水平测角校准参数、垂直测角校准参数以及所述姿态传感器获取的所述电子设备的姿态信息，校准所述水平角度和所述垂直角度；所述处理器根据预先获取的水平测角校准参数和垂直测角校准参数，校准所述距离。

2.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述UWB天线包括第一UWB子天线和第二UWB子天线，所述第一UWB子天线和第二UWB子天线中的至少一者用于测量所述待测物与所述电子设备的距离。

3.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述UWB天线包括至少三个UWB子天线，至少三个所述UWB子天线用于测量所述待测物相对于所述电子设备的角度。

4.根据权利要求3所述的电子设备，其特征在于，所述至少三个UWB子天线包括：第一UWB子天线、第三UWB子天线和第四UWB子天线；

所述第一UWB子天线与所述第三UWB子天线沿第一方向分布，所述第一UWB子天线与所述第四UWB子天线沿第二方向分布，且所述第一方向垂直与所述第二方向。

5.根据权利要求3所述的电子设备，其特征在于，所述至少三个UWB子天线上均设置有相同位置的信号馈入点。

6.一种UWB校准方法，应用于如权利要求1-5任一项所述的电子设备，其特征在于，包括：

UWB芯片根据UWB天线的信号计算待测物相对于所述电子设备的第一水平角度和第一垂直角度；

处理器根据预先获取的水平测角校准参数和垂直测角校准参数，校准所述第一水平角度和所述第一垂直角度，得到第二水平角度和第二垂直角度；

所述处理器根据所述第二水平角度和所述第二垂直角度，得到待测物相对于所述电子设备的目标距离；

姿态传感器获取所述电子设备的姿态信息，所述姿态信息包括第三水平角度和第三垂直角度；

所述处理器根据所述第三水平角度和所述第三垂直角度，校准所述第二水平角度和所述第二垂直角度，得到待测物相对于所述电子设备的目标水平角度和目标垂直角度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述水平测角校准参数的获取方法包括：

设定水平角度区间和垂直角度区间；

以第一预设角度等分所述水平角度区间，得到多个子水平角度；

将所述垂直角度区间按照第一预设角度范围分为多个子垂直角度区间，所有子垂直角度区间之和为所述垂直角度区间；

根据最小二乘准则，对每个所述子垂直角度区间均进行多个子水平角度的校准，得到所述水平测角校准参数，其中，所述水平测角校准参数的个数为所述子垂直角度区间的个数与所述子水平角度的个数的乘积。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述垂直测角校准参数的获取方法包括：

设定水平角度区间和垂直角度区间；

以第二预设角度等分所述垂直角度区间，得到多个子垂直角度；

将所述水平角度区间按照第二预设角度范围分为多个子水平角度区间，所有子水平角度区间之和为所述水平角度区间；

根据最小二乘准则，对每个所述子水平角度区间均进行多个子垂直角度的校准，得到所述垂直测角校准参数，其中，所述垂直测角校准参数的个数为所述子水平角度区间的个数与所述子垂直角度的个数的乘积。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求6-8任一项所述的UWB校准方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求6-8任一项所述的UWB校准方法的步骤。