[发明专利]一种非工作状态下系统的预计可靠性评估方法及系统在审

专利信息
申请号: 202110590181.8 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN113312720A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 张杰;何兵;杨正伟;代琪 申请(专利权)人: 中国人民解放军火箭军工程大学
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17;G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 韩雪梅
地址: 710025 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 工作 状态 系统 预计 可靠性 评估 方法
【说明书】:

发明涉及一种非工作状态下系统的预计可靠性评估方法及系统。该方法包括:获取不同的电子元器件的失效率模型;根据所述失效率模型,确定可靠度模型;获取不同的电子元器件之间的耦合关系;根据所述可靠度模型和所述耦合关系,确定系统整体的可靠性。本发明能够快速、高效地应对不同系统下的预计可靠度评估工作。

技术领域

本发明涉及可靠性评估领域,特别是涉及一种非工作状态下系统的预计可靠性评估方法及系统。

背景技术

现代武器装备评估、军事对抗中,可靠性评估工作都极为复杂,各类不同的失效率类型、退化模型,评估过程中需要处理的各类模型及数据较多,为了实现各类模型、方法的有效应用,便于评估过程可追溯,减少重复工作,成为系统级预计可靠度评估需要面对的一个问题。

如今对于系统预计可靠性评估的模型的失效率设置不常见,对于如何将这些电子元器件的单个可靠度进行耦合,得到系统级的可靠度未见发刊和报道。

发明内容

本发明的目的是提供一种非工作状态下系统的预计可靠性评估方法及系统,将不同层级、类型的失效率和可靠度模型化,根据不同的系统和电子元器件选取不同的可靠度模型和组合关系,快速、高效地评估系统可靠度。

为实现上述目的,本发明提供了如下方案:

一种非工作状态下系统的预计可靠性评估方法包括:

获取不同的电子元器件的失效率模型,所述电子元器件包括开关、二极管、压电陀螺、电池和机械滤波器,所述失效率模型包括开关模型失效率模型、二极管模型失效率模型、压电陀螺模型失效率模型、电池模型失效率模型和机械滤波器模型失效率模型;

根据所述失效率模型,确定可靠度模型,所述可靠度模型包括指数模型、对数正态分布模型、威布尔模型和浴盆模型;

获取不同的电子元器件之间的耦合关系;

根据所述可靠度模型和所述耦合关系,确定系统整体的可靠性。

可选地,所述开关模型失效率模型为:

λp=(λb1b2EπQπLπCYC

式中,λb1为开关驱动机构的基本失效率,λb2为开关有源接地的基本失效率,πE为环境系数,πQ为质量系数,πL为触点负载系数,πCYC为开关速率系数;

所述二极管模型失效率模型为:

式中,λb为基本失效率,πE为环境系数,πQ为质量系数,πr为额定电流系数,πA为应用系数,为电压应力系数,πc为结构系数;

所述压电陀螺模型失效率模型为:

λp=(λb1b2CπAπkπEπL

式中,λb1为压电陀螺敏感器件基本失效率,λb2压电陀螺后部电路基本失效率,πC复杂度系数,πk结构系数,πE为环境系数,πA为应用系数,πL为成熟系数;

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