[发明专利]一种交替并行采样系统变温条件下修正系数自动适配方法在审

专利信息
申请号: 202110590735.4 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN113346901A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 赵雷;董若石;钟文涛;秦家军;曹喆;刘树彬;安琪 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H03M1/08 分类号: H03M1/08;H03M1/10
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 汪贵艳
地址: 230026*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 交替 并行 采样系统 条件下 修正 系数 自动 配方
【权利要求书】:

1.一种交替并行采样系统变温条件下修正系数自动适配方法,其特征在于,包括步骤:

步骤1:预先获取在不同温度下,频带范围内的每一个单频点信号对应的输入信号频率下的通道失配误差标定结果;

步骤2:根据当前环境温度从预先获取的失配误差标定结果中线性插值,得到当前温度下的失配误差系数;

步骤3:通过硬件逻辑计算当前温度下的适配误差系数对应的修正系数,对当前温度下的测试结果实时修正。

2.根据权利要求1所述的一种交替并行采样系统变温条件下修正系数自动适配方法,其特征在于,步骤1具体包括:

步骤1.1:设计自动标定硬件逻辑,存储某一单频点信号下的ADC的采样数据,顺次对ADC各通道的采样数据进行四参数拟合,将拟合结果转化为相同形式;

步骤1.2:设定ADC某一通道为基准,基准的增益误差为1,相位误差为0,根据拟合结果得到ADC各通道相对于基准的失配误差标定结果,将失配误差标定结果写入存储,完成当前频点下的标定;

步骤1.3:改变输入信号频率,重复步骤1.1-1.2,完成设定的频带范围内所有频点下的ADC各通道的失配误差标定;

步骤1.4:改变温度,重复步骤1.3,完成在不同温度下ADC各通道的失配误差标定。

3.根据权利要求1所述的一种交替并行采样系统变温条件下修正系数自动适配方法,其特征在于,步骤3中修正系数的计算通过完美重构法实现。

4.根据权利要求1或3所述的一种交替并行采样系统变温条件下修正系数自动适配方法,其特征在于,步骤3具体包括:

步骤3.1:启动修正系数计算逻辑,读入当前频率、当前温度对应的适配误差系数;

步骤3.2:计算完美重构修正所需的频点的角频率,对每个角频率下的完美重构矩阵的各元素进行求解计算,获得当前角频率下的修正滤波器的频域数值解;

步骤3.3:对频域数值解进行IFFT变换,得到对应的修正滤波器的时域数值解;

步骤3.4:加窗截断处理,得到修正滤波器的系数,可实现对当前温度下的测试结果实时修正。

5.根据权利要求4所述的一种交替并行采样系统变温条件下修正系数自动适配方法,其特征在于,步骤3.2中,频点的数量N=2P

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