[发明专利]一种基于层次聚类分析的沟槽特征参数处理方法有效

专利信息
申请号: 202110593698.2 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN113269757B 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 宋韬;朱增旭;赵亮 申请(专利权)人: 浙江中烟工业有限责任公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06V10/762;G06V10/764;G06K9/62
代理公司: 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 代理人: 徐金杰
地址: 310008 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 层次 聚类分析 沟槽 特征 参数 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种基于层次聚类分析的沟槽特征参数处理方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1)、对图像进行边缘轮廓提取,计算沟槽特征参数;

步骤2)、将获取的沟槽数目N与标准值Nstandard进行对比,判断沟槽数目计算是否准确,若不准确,则对所有孔的深度、面积、底部宽度的数据进行层次聚类筛选;

步骤2.1)、对X={x1,x2,x3…xn}进行欧氏距离计算,创建欧氏距离矩阵表,其中xi是单个孔的特征参数向量,xi={di,si,wi},d是沟槽深度,即沟槽孔顶点到沟槽底部的垂直距离,s是沟槽面积比,即单个沟槽孔面积与整体沟槽面积的比值,w是沟槽孔的底部宽度,欧氏距离计算公式:

步骤2.2)、在建立好的欧氏距离矩阵表中找出距离最小的两个元素xi和xj合并成为类C(xi,xj),用C(xi,xj)替代xi和xj,重新带入矩阵表,形成迭代计算矩阵表,按类间平均距离法计算空间距离,迭代上述方法直至所有元素聚为一类,生成谱系树;

步骤2.3)、谱系树中数据点自下而上,逐层聚类,最终形成由C1和C2两大类组成完整的全集;C2类元素数量较少,计算出其元素数量|C2|,若|C2|等于N与Nstandard的差值,则此类元素均要筛除,若|C2|大于N与Nstandard的差值,则让C2中的每个元素依次与C1的重心点G计算空间距离,筛除其中空间距离最大、相似度最小的A个元素,A为N与Nstandard的差值。

2.根据权利要求1所述的一种基于层次聚类分析的沟槽特征参数处理方法,其特征在于,所述类间平均距离的定义为类间所有元素间欧式距离的平均值,计算公式如下:

其中|C1|,|C2|代表C1和C2的元素个数。

3.根据权利要求1所述的一种基于层次聚类分析的沟槽特征参数处理方法,其特征在于,所述C1的重心点G的计算公式如下:

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