[发明专利]显示面板Mura修补方法

说明书

一种显示面板Mura修补方法，该方法包括下述步骤：S10，提供一存在缺陷的显示面板、检测机以及背板，存在缺陷的显示面板为第一显示面板；S20，将背板覆盖在第一显示面板背离检测基台的一侧，采用检测机对第一显示面板进行检测，获取第一显示面板中Mura缺陷的形状、位置坐标以及所述Mura缺陷沿第一方向、第二方向的长度；S30，根据步骤“S20”中获取的所述第一显示面板中Mura缺陷的形状、位置坐标以及所述Mura缺陷沿第一方向、第二方向的长度对所述第一显示面板中的所述Mura缺陷进行补偿。

技术领域

本申请涉及显示领域，特别是涉及一种显示面板Mura修补方法。

背景技术

半导体显示面板，包括LCD(Liquid Crystal Display)液晶显示面板和OLED(Organic Light-Emitting Diode)显示面板，其像素图案均是通过曝光(Mask) 形成。

然而在显示面板的制作过程中，受曝光机台及棱镜片(Lens)的影响，导致显示面板成像后的图案线宽出现偏差，会形成各种Mura缺陷，包括点状(Pin Mura)缺陷，带状Mura缺陷等各种Mura缺陷，在显示面板的制作源头改善这类Mura缺陷是非常困难的。

因此，现有的显示面板技术中，还存在着显示面板在进行曝光工艺时，所述显示面板易受到曝光机台、棱镜片等外界环境的影响，使得所述显示面板出现各种Mura缺陷，降低了所述显示面板的显示质量的问题，急需改进。

发明内容

本申请涉及一种显示面板Mura修补方法，用于解决现有技术中存在着显示面板在进行曝光工艺时，所述显示面板易受到曝光机台、棱镜片等外界环境的影响，使得所述显示面板出现各种Mura缺陷，降低了所述显示面板的显示质量的问题。

为解决上述问题，本申请提供的技术方案如下：

本申请提供的一种显示面板Mura修补方法，所述显示面板Mura修补方法包括下述步骤：

S10，提供一存在缺陷的显示面板、检测机以及背板，所述存在缺陷的显示面板为第一显示面板；

S20，将所述背板覆盖在所述第一显示面板背离检测基台的一侧，采用所述检测机对所述第一显示面板进行检测，获取所述第一显示面板中Mura缺陷的形状、位置坐标以及所述Mura缺陷沿第一方向、第二方向的长度；

S30，根据步骤“S20”中获取的所述第一显示面板中Mura缺陷的形状、位置坐标以及所述Mura缺陷沿所述第一方向、所述第二方向的长度对所述第一显示面板中的所述Mura缺陷进行补偿。

在本申请提供的一些实施例中，步骤“S30”具体包括：

S301，在所述第一显示面板的一侧进行镀膜；

S302，在镀膜后的所述第一显示面板一侧涂布一层光阻层；

S303，采用第一掩膜板对所述第一显示面板进行光罩；

S304，再依次对所述第一显示面板进行显影、蚀刻并去除所述第一显示面板上多余的所述光阻层。

在本申请提供的一些实施例中，所述第一掩膜板的形状与所述第一显示面板的形状相同，所述第一掩膜板中的透光区域与所述第一显示面板中的所述 Mura缺陷的位置相同，所述第一掩膜板透光区域沿所述第一方向、所述第二方向的长度与所述第一显示面板中的所述Mura缺陷沿所述第一方向、所述第二方向的长度相同。

在本申请提供的一些实施例中，所述检测机为CCD感光摄像头，所述背板为透明基板。

在本申请提供的一些实施例中，所述背板背离所述第一显示面板的一侧设置有位置坐标。