[发明专利]基于光矢量分析的光时延测量方法及装置在审
申请号: | 202110596035.6 | 申请日: | 2021-05-29 |
公开(公告)号: | CN113340571A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 李树鹏;潘时龙;陈旭峰;王祥传;汤晓虎;王立晗;刘熙;李平 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 杨楠 |
地址: | 210000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 矢量 分析 光时延 测量方法 装置 | ||
1.一种基于光矢量分析的光时延测量方法,其特征在于,用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制;然后将所生成的调制光信号输入待测光链路并将反射回来的调制光信号转换为电信号;提取所述电信号的幅相信息并对其进行逆傅里叶变换,得到待测光链路的时域脉冲响应,并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。
2.如权利要求1所述基于光矢量分析的光时延测量方法,其特征在于,所述根据待测光链路的时域脉冲响应中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延,具体按照以下公式:
其中,h(t)为待测光链路的时域脉冲响应,η是将反射回来的调制光信号转换为电信号所使用光电探测器的响应度,G是反射光得到的光放大增益,M是所述强度调制的调制指数,N是反射点的数量,An、τn分别为第n个反射点的反射光幅度和光时延,t为时间,δ(t-τn)表示第n个反射点的时域脉冲响应。
3.如权利要求1或2所述基于光矢量分析的光时延测量方法,其特征在于,该方法还包括:通过将各反射点的时域脉冲响应分别变换至频域,得到各反射点反射光的幅度和相位;利用各反射点反射光的相位,通过相推法计算出各反射点反射光的群时延,并以所计算出的群时延作为相应反射点反射光的准确光时延。
4.如权利要求1或2所述基于光矢量分析的光时延测量方法,其特征在于,通过对分布式反馈激光器输入幅度呈周期性变化的驱动信号来生成所述光载波。
5.如权利要求1或2所述基于光矢量分析的光时延测量方法,其特征在于,先对反射回来的调制光信号进行放大和滤波处理之后,再将其转换为电信号。
6.一种基于光矢量分析的光时延测量装置,其特征在于,包括:
探测光输入模块,用于用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制,并将所生成的调制光信号输入待测光链路;
光探测模块,用于将待测光链路所反射回来的调制光信号转换为电信号;
幅相接收机,用于提取所述电信号的幅相信息;
数据处理模块,用于对所述电信号的幅相信息进行逆傅里叶变换,得到待测光链路的时域脉冲响应,并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。
7.如权利要求6所述基于光矢量分析的光时延测量装置,其特征在于,数据处理模块具体按照以下公式计算出各反射点的光时延:
其中,h(t)为待测光链路的时域脉冲响应,η是将反射回来的调制光信号转换为电信号所使用光电探测器的响应度,G是反射光得到的光放大增益,M是所述强度调制的调制指数,N是反射点的数量,An、τn分别为第n个反射点的反射光幅度和光时延,t为时间,δ(t-τn)表示第n个反射点的时域脉冲响应。
8.如权利要求6或7所述基于光矢量分析的光时延测量装置,其特征在于,所述数据处理模块中还包括:
精确测量模块,用于通过将各反射点的时域脉冲响应分别变换至频域,得到各反射点反射光的幅度和相位,然后利用各反射点反射光的相位,通过相推法计算出各反射点反射光的群时延,并以所计算出的群时延作为相应反射点反射光的准确光时延。
9.如权利要求6或7所述基于光矢量分析的光时延测量装置,其特征在于,通过对分布式反馈激光器输入幅度呈周期性变化的驱动信号来生成所述光载波。
10.如权利要求6或7所述基于光矢量分析的光时延测量装置,其特征在于,该装置还包括:
放大和滤波模块,用于在将反射回来的调制光信号转换为电信号之前,先对其进行放大和滤波处理。
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