[发明专利]气体传感器元件及使用其的气体检测装置在审
申请号: | 202110596592.8 | 申请日: | 2021-05-28 |
公开(公告)号: | CN113758907A | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 吉田大哲;高桥美枝;福田一人;关良平 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张毅群 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 传感器 元件 使用 检测 装置 | ||
1.一种气体传感器元件,其具有层叠结构,所述层叠结构中依次层叠有:
支撑基材;
第一发光层,其设置于所述支撑基材上,且包含在第1峰值波长处发光的第1发光粒子;
传感器层,其设置于所述第一发光层上,且吸附气体分子;
第二发光层,其设置于所述传感器层上,且包含在与所述第1峰值波长不同的第2峰值波长处发光的第2发光粒子;以及
保护层,其设置于所述第二发光层上,
所述气体传感器元件具有贯通所述层叠结构的一部分或全部的开孔部。
2.根据权利要求1所述的气体传感器元件,其中,所述开孔部从所述保护层至少贯通至所述传感器层露出为止。
3.根据权利要求1或2所述的气体传感器元件,其中,所述传感器层的膜厚为1nm以上且100nm以下。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的气体传感器元件,其中,所述第二发光层中所含的所述第2发光粒子的、通过依据日本工业产品标准的荧光光度分析通则JISK 0120的方法测定的发光的所述第2峰值波长,与所述第一发光层中所含的所述第1发光粒子的发光的所述第1峰值波长至少相差10nm以上。
5.一种气体检测装置,其具备:
权利要求1~4中任一项所述的气体传感器元件;
激发能量源,其使所述气体传感器元件发光;以及
受光部,其接收由所述激发能量源激发的所述气体传感器元件的发光。
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