[发明专利]一种核探测β闪烁体制作工艺流程

说明书

本发明公开了一种核探测β闪烁体制作工艺流程，包括以下步骤：一、将树脂粉末进行合模压制；二、将聚乙烯有机玻璃托进行清洗和烘干；三、将对三联苯颗粒和丙酮进行球磨；四、将二氯乙烷、丙酮和对三联苯粉末搅拌均匀，喷涂在聚乙烯有机玻璃托表面；五、将涂料聚乙烯有机玻璃托和聚甲基丙烯酸甲酯粉末进行复压合模压制；六、将闪烁体前驱体进行清洗和烘干；七、将闪烁体前驱体进行蒸镀铝，得到核探测β闪烁体。本发明通过制备聚乙烯有机玻璃托，然后喷涂对三联苯，再制备聚甲基丙烯酸甲酯有机玻璃层进行保护，降低了对联三苯层的厚度，提高了探测β射线的灵敏度，为对联三苯起保护作用，提高了核探测β闪烁体检测的准确性和使用寿命。

技术领域

本发明属于核辐射探测领域技术领域，具体涉及一种核探测β闪烁体制作工艺流程。

背景技术

闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光的材料，在辐射探测领域发挥着十分重要的作用。

β闪烁体主要应用于核电站对惰性气体中β射线放射性测量，β闪烁体是将β射线转换为可见光，通过光电倍增管将光信号转变为电信号进行测量。针对产品使用需求设计不同厚度的β闪烁体，以达到在外γ场使用时场测量β射线满足用户对设备的测量指标。目前，普通的闪烁体在测量β射线时，受核电站惰性气体中外γ放射场影响较高，无法保证闪烁体核探测器测量下限。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足，提供一种核探测β闪烁体制作工艺流程。该工艺流程通过制备聚乙烯有机玻璃托，然后将对三联苯进行喷涂，再制备有机玻璃进行保护，降低了对联三苯层的厚度，提高了探测β射线的灵敏度，对γ射线灵敏度反应降低，实现在高γ放射环境下对β射线的精准测量，为对联三苯起保护作用，提高了核探测β闪烁体检测的准确性，也提高了核探测β闪烁体的使用寿命。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种核探测β闪烁体制作工艺流程，其特征在于，该工艺流程包括以下步骤：

步骤一、将树脂粉末装入油压机的模具中进行合模压制，然后进行脱模，得到聚乙烯有机玻璃托；

步骤二、将步骤一中得到的聚乙烯有机玻璃托依次进行清洗和烘干；

步骤三、将对三联苯颗粒和丙酮进行球磨，得到对联三苯粉末；

步骤四、将二氯乙烷、丙酮和步骤三中得到的对三联苯粉末搅拌均匀，得到喷涂料，然后将喷涂料喷涂在步骤二中经烘干后的聚乙烯有机玻璃托表面，得到涂料聚乙烯有机玻璃托；

步骤五、将步骤四中得到的涂料聚乙烯有机玻璃托和聚甲基丙烯酸甲酯粉末装入油压机的模具中进行复压合模压制，然后进行脱模，得到闪烁体前驱体；

步骤六、将步骤五中得到的闪烁体前驱体依次进行清洗和烘干；

步骤七、将步骤六中经烘干后的闪烁体前驱体进行表面蒸镀铝，得到核探测β闪烁体。

本发明先制备聚乙烯有机玻璃托，然后将喷涂料在聚乙烯有机玻璃托上喷涂，在传统工艺的基础上增加了对β射线较为敏感的对联三苯，并通过采用喷涂工艺，使核探测β闪烁体中对联三苯层的厚度可降低至0.3mm，使核探测β闪烁体对探测β射线的灵敏度提高，对β射线的响应值可达65％以上，对γ射线灵敏度反应降低，实现在高γ放射环境下对β射线的精准测量，通过在对联三苯层外侧制备聚甲基丙烯酸甲酯有机玻璃层进行保护，主要在探测器装配时为对联三苯起保护作用，在测量过程中降低被测气体中杂质对对联三苯晶体的物理伤害，提高了核探测β闪烁体检测的准确性，也提高了核探测β闪烁体的使用寿命，通过蒸镀铝工艺，对核探测β闪烁体进行遮光保护，有效降低外界环境中γ射线对闪烁体的影响，使闪烁体核探测器对核电站惰性气体中外γ放射场的响应值降低，顺利完成在高γ射线放射环境下对β射线的测量，保证用户要求的测量下限。