[发明专利]MEMS传感器缺陷检测的方法及系统在审

专利信息
申请号: 202110600260.2 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN113344870A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 邓明星;张鲲 申请(专利权)人: 武汉科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 郑勤振
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: mems 传感器 缺陷 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种MEMS传感器缺陷检测方法,其特征在于,包括:

采集MEMS传感器图像;

构造用于MEMS传感器疵病检测的Gan faster rcnn神经网络,该神经网络包括backbone和对抗生成网络,所述backbone用于将输入的进来的所述图像中的疵病图进行特征提取,通过生成器生成feature map,然后把feature map输入到两个部分,其一输入到生成建议框部分的网络对生成建议框进行回归进行训练,其二是输入到所述对抗生成网络中进行训练,使对抗生成网络能够生成逼真的feature map和对应标签,把生成的数据制作成数据集,再把原有的疵病图去构造另外一组数据集,用这两组数据集共同去对建议框的调整进行训练;

将待测MEMS传感器的图像输入到训练好的所述神经网络中,获取图像中MEMS传感器疵病的定位。

2.根据权利要求1所述的MEMS传感器缺陷检测的方法,其特征在于,对所述MEMS传感器图像进行解码、图像增强和数据类型转换预处理,使其适应所述Gan faster rcnn神经网络结构。

3.一种MEMS传感器缺陷检测系统,其特征在于,包括:

摄像头,采集MEMS传感器图像;

处理器,其配配置为:

构造用于MEMS传感器疵病检测的Gan faster rcnn神经网络,该神经网络包括backbone和对抗生成网络,所述backbone用于将输入的进来的所述图像中的疵病图进行特征提取,通过生成器生成feature map,然后把feature map输入到两个部分,其一输入到生成建议框部分的网络对生成建议框进行回归进行训练,其二是输入到所述对抗生成网络中进行训练,使对抗生成网络能够生成逼真的feature map和对应标签,把生成的数据制作成数据集,再把原有的疵病图去构造另外一组数据集,用这两组数据集共同去对建议框的调整进行训练;

将待测MEMS传感器的图像输入到训练好的所述神经网络中,获取图像中MEMS传感器疵病的定位。

4.根据权利要求3所述的MEMS传感器缺陷检测系统,其特征在于,对所述MEMS传感器图像进行解码、图像增强和数据类型转换预处理,使其适应所述Gan faster rcnn神经网络结构。

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