[发明专利]显示面板及其测试方法和显示装置

说明书

本发明实施例公开了一种显示面板及其测试方法和显示装置。显示面板包括：多个像素单元、多条数据线、多条数据连接线、第一开关、第二开关、第一控制信号线、测试信号线、裂纹检测线和第一焊盘；测试信号线和裂纹检测线均连接第一焊盘；第一开关连接于测试信号线和数据连接线之间，第二开关连接于裂纹检测线和数据连接线之间；第一开关用于响应于第一控制信号线上的控制信号而导通或断开测试信号线和数据连接线，第二开关用于响应于第一控制信号线上的控制信号而导通或断开裂纹检测线和数据连接线。本发明实施例的技术方案，有助于减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率，并提升显示装置的良率。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法和显示装置。

背景技术

随着显示技术的快速发展，人们对于显示装置的性能要求越来越高。为提升产品良率，通常需要在显示装置的各制作工艺段对其进行测试。目前，现有技术中的测试电路存在占用布线空间过多的问题，不但降低了显示面板的布线空间的利用率，而且还不利于窄边框设计的实现。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及其测试方法和显示装置，以减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

多个像素单元、多条数据线和多条数据连接线，所述像素单元连接对应的所述数据线，所述数据连接线通过对应的所述数据线连接所述像素单元；

第一开关、第二开关、第一控制信号线、测试信号线、裂纹检测线和第一焊盘；所述第一焊盘位于所述显示面板的非显示区，所述测试信号线和所述裂纹检测线均连接所述第一焊盘；所述第一控制信号线连接所述第一开关和所述第二开关的控制端，所述第一开关连接于所述测试信号线和所述数据连接线之间，所述第二开关连接于所述裂纹检测线和所述数据连接线之间，不同所述第一开关和所述第二开关连接的所述数据连接线不同；所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述测试信号线和所述数据连接线，所述第二开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述裂纹检测线和所述数据连接线。

可选地，所述测试信号线和所述裂纹检测线均位于所述非显示区，所述显示面板包括两个所述第二开关，所述裂纹检测线包括第一裂纹检测线和第二裂纹检测线；

所述第一裂纹检测线的一端连接所述第一焊盘，所述第一裂纹检测线的另一端连接一个所述第二开关，且所述第一裂纹检测线围绕所述显示面板的显示区的一侧延伸；

所述第二裂纹检测线的一端连接所述第一焊盘，所述第一裂纹检测线的另一端连接另一个所述第二开关，且所述第二裂纹检测线围绕所述显示区的另一侧延伸。

可选地，所述非显示区还设置有第二焊盘，所述第一控制信号线连接所述第二焊盘。

可选地，所述第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接所述测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接对应的所述数据连接线；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述裂纹检测线，所述第二晶体管的第二极连接对应的所述数据连接线。

可选地，还包括第三开关、第四开关、第二控制信号线和第三控制信号线，所述第二控制信号线连接所述第三开关的控制端，所述第三控制信号线连接所述第四开关的控制端；

每条所述数据连接线均通过一个所述第三开关连接一条所述数据线，并通过一个所述第四开关连接另一条所述数据线，不同所述数据连接线对应的所述第三开关、所述第四开关和所述数据线均不同；