[发明专利]一种面向紫外通讯的Micro紫外发光二极管芯片有效
申请号: | 202110602777.5 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113345989B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 张紫辉;车佳漭;李青;张勇辉;楚春双;郑权 | 申请(专利权)人: | 河北工业大学;东旭集团有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/20;H01L33/00 |
代理公司: | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 赵凤英 |
地址: | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 面向 紫外 通讯 micro 发光二极管 芯片 | ||
1.一种面向紫外通讯的Micro紫外发光二极管芯片,其特征为该二极管芯片沿着外延生长方向依次包括:衬底、缓冲层、n型电子注入层,所述的n型电子注入层为二级台阶结构,其第一级台阶为暴露部分;凸起的非暴露部分,即n型电子注入层的第二级台阶沿外延生长方向依次为多量子阱层、p型电子阻挡层、第一p型空穴注入层;所述的第一p型空穴注入层为另一个二级台阶结构,其第二级台阶上沿外延生长方向依次为p型空穴加速层、第二p型空穴注入层、p型重掺杂空穴注入层、电流扩展层;电流扩展层上设置有p型欧姆电极,n型电子注入层的暴露部分上设置有n型欧姆电极;
所述的n型电子注入层的一级台阶厚度为n型电子注入层总厚度的1%~99%;
所述的n型电子注入层中暴露部分面积为总面积的5%~99%;
所述的第一p型空穴注入层的一级台阶的厚度为第一p型空穴注入层总厚度的1%~99%;
所述的第一p型空穴注入层中凸起的第二级台阶的面积为第一p型空穴注入层总面积的5~99% ;
所述衬底材料为蓝宝石、石英玻璃、SiC、AlN、GaN或Si;根据外延生长方向的不同,衬底可分为非极性面[1-100]衬底、半极性面[11-22]衬底或极性面[0001]衬底;
所述缓冲层材料为Alx1Iny1Ga1-x1-y1N;其中各组分系数应满足如下关系,0≤x1≤1,0≤y1≤1,0≤1-x1-y1≤1,厚度为1~5 μm;
所述n型电子注入层材料为Alx2Iny2Ga1-x2-y2N;其中各组分系数应满足如下关系,0≤x2≤1,0≤y2≤1,0≤1-x2-y2≤1,厚度为1~5 μm;所述暴露部分的厚度为0.01~4.95 μm;
所述多量子阱层材料为Alx3Iny3Ga1-x3-y3N/Alx4Iny4Ga1-x4-y4N;其中各组分系数应满足如下关系,0≤x3≤1,0≤y3≤1,0≤1-x3-y3≤1,0≤x4≤1,0≤y4≤1,0≤1-x4-y4≤1,量子垒Alx4Iny4Ga1-x4-y4N位于量子阱Alx3Iny3Ga1-x3-y3N两侧,量子阱的个数大于等于1,且应满足量子垒材料的禁带宽度大于量子阱材料的禁带宽度;单层量子阱厚度为1~10 nm,单层量子垒厚度为5~50 nm;
所述p型电子阻挡层材料为Alx5Iny5Ga1-x5-y5N;其中各组分系数应满足如下关系,0≤x5≤1,0≤y5≤1,0≤1-x5-y5≤1,厚度为10~100 nm;
所述的第一p型空穴注入层和第二p型空穴注入层的材料为Alx6Iny6Ga1-x6-y6N;其中各组分系数应满足如下关系,0≤x6≤1,0≤y6≤1,0≤1-x6-y6≤1,厚度为50~300 nm;
所述的p型空穴加速层材料为Alx7Iny7Ga1-x7-y7N;其中各组分系数应满足如下关系,0≤x7≤1,0≤y7≤1,0≤1-x7-y7≤1,厚度为1~10 nm,且应满足p型空穴加速层材料的禁带宽度大于p型空穴注入层材料的禁带宽度;
所述p型重掺杂空穴注入层材料为Alx8Iny8Ga1-x8-y8N;其中各组分系数应满足如下关系,0≤x8≤1,0≤y8≤1,0≤1-x8-y8≤1,厚度为10~100 nm;
所述电流扩展层材料为铝、Ni/Au、ITO、石墨烯、氧化锌或金属纳米线,厚度为10~500nm;
所述p型欧姆电极的材质为Cr/Au、Pt/Au、Ni/Au或Ni/Al,其中p型欧姆电极面积占电流扩展层面积百分比为1%~100%;
所述n型欧姆电极的材质为Al/Au、Cr/Au、V/Al/Ni/Au或Ti/Al/Ti/Au,其中n型欧姆电极占暴露的n型电子注入层面积百分比为1%~100%。
2.如权利要求1所述的面向紫外通讯的Micro紫外发光二极管芯片的制备方法,其特征为包括以下步骤:
第一步,将衬底在MOCVD(金属有机化合物化学气相沉积)或MBE(分子束外延)反应炉中进行烘烤,烘烤温度范围为900~1500℃,清除衬底表面异物;
第二步,在MOCVD或MBE反应炉中,在进行第一步处理后的衬底表面外延生长缓冲层;
第三步,在MOCVD或MBE反应炉中,在第二步得到的缓冲层表面外延生长n型电子注入层;
第四步,在MOCVD或MBE反应炉中,在第三步得到的n型电子注入层表面外延生长多量子阱层;
第五步,在MOCVD或MBE反应炉中,在第四步得到的多量子阱层表面外延生长p型电子阻挡层;
第六步,在MOCVD或MBE反应炉中,在第五步得到的p型电子阻挡层表面外延生长第一p型空穴注入层;继续在所得第一p型空穴注入层上外延生长p型空穴加速层;且p型空穴加速层材料的禁带宽度大于p型空穴注入层材料的禁带宽度;
第七步,在MOCVD或MBE反应炉中,在p型空穴加速层表面外延生长第二p型空穴注入层;
第八步,在MOCVD或MBE反应炉中,在第七步得到的第二p型空穴注入层表面外延生长p型重掺杂空穴注入层;
第九步,在第八步得到的p型重掺杂空穴注入层上,利用光刻工艺在其表面刻出第二级台阶图形,随后利用干法刻蚀工艺刻蚀出台阶,并暴露出n型电子注入层;
第十步,在第九步得到的第二级台阶表面上,利用光刻和干法刻蚀工艺刻蚀出第三级台阶,并暴露出第一p型空穴注入层;
第十一步,在第八步得到的p型重掺杂空穴注入层上,利用光刻和蒸镀工艺制作电流扩展层;
第十二步,在电流扩展层和n型电子注入层上,分别利用光刻和蒸镀工艺分别制作p型欧姆电极和n型欧姆电极;
最终得到面向紫外通讯的Micro紫外发光二极管芯片。
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