[发明专利]检测面板线段瑕疵的设备及方法

说明书

本发明提供一种检测面板线段瑕疵的设备及方法。此设备包括影像撷取装置、样本储存装置以及处理装置，其中，处理装置从影像撷取装置接收其拍摄放置有待测面板的区域所得的初始影像并从初始影像中获取对应至待测面板的待测面板影像、从样本储存装置取得样本数据以将待测面板影像上对应于样本数据指定的样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像，并通过执行神经网络分类程序以检查待测线段的影像以判断待测线段是否存在线段瑕疵。由此，能够减少因为人为检查标准不一而造成的面板品质问题。

技术领域

本发明有关于一种面板检测技术，特别有关于一种检测面板线段瑕疵的设备及方法。

背景技术

在大尺寸面板十分盛行的现代社会中，如何确保面板品质无虑已经是在面板生产过程中非常重要的一环。在现有的技术中，许多的制造商利用人工检视面板的方法来确认面板的制造品质。然而，利用人工检视面板的方法不但耗时耗力，而且因为存在每个人主观认定不同的因素，所以非常可能存在检查标准不一的现象并最终造成面板品质起伏不定的不良结果。

发明内容

有鉴于此，本发明的一个目的就是提供一种检测面板线段瑕疵的设备及方法，其可进行自动定位面板线段位置的操作，并可进一步将所定位出的面板线段的影像送到神经网络分类程序以由事先训练好的神经网络分类程序来判断此面板线段中是否存在瑕疵，由此减少因为人为检查标准不一而造成的面板品质问题。

从一个角度来看，本发明的说明内容提供了一种检测面板线段瑕疵的设备，其适于确认待测面板上是否存在线段瑕疵。此设备包括影像撷取装置、样本储存装置以及处理装置。影像撷取装置拍摄放置有前述待测面板的区域以获取对应的初始影像。样本储存装置储存了包括样本线段位置的样本数据。处理装置电性连接至前述的影像撷取装置及样本储存装置，其中，处理装置从影像撷取装置接收初始影像并从初始影像中获取对应至待测面板的待测面板影像；另外，处理装置还从样本储存装置取得样本数据以将待测面板影像上对应于样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像；而且，处理装置还执行神经网络分类程序以检查待测线段的影像而判断待测线段是否存在线段瑕疵。

在一个实施例中，上述的处理装置将待测面板影像中包含待测线段的影像区块区分为多个影像子区块，并将每一个影像子区块作为神经网络分类程序的输入数据以使神经网络分类程序判断所输入的影像子区块包含的待测线段的部分是否存在线段瑕疵。

在一个实施例中，当上述的神经网络分类程序判断所输入的影像子区块包含的待测线段的部分存在线段瑕疵时，处理装置回报此线段瑕疵的类型以及包含此线段瑕疵的影像子区块的位置。

在一个实施例中，上述检测面板线段瑕疵的设备还包括照明装置以及多个封闭隔板，此照明装置与影像撷取装置设置于待测面板的相对两侧且向待测面板投射光线，这些封闭隔板组合后形成包围影像撷取装置、待测面板及照明装置的不透光区域。

在一个实施例中，处理装置还从多张理想样本面板影像的每一者中找出至少一个既存线段、根据这些既存线段的位置而将这些既存线段分为多个位置群组，并将每一个位置群组中的至少一个既存线段的位置平均后的结果储存至样本储存装置以作为样本线段位置的一部分。

从另一个角度来看，本发明的说明内容还提供了一种检测面板线段瑕疵的方法，其适于确认待测面板上是否存在线段瑕疵。此方法先拍摄待测面板以获得初始影像，并从初始影像中撷取对应至待测面板的待测面板影像；接着，通过先取得事先储存的样本数据，根据样本数据中包括的样本线段位置而将待测面板影像上对应于样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像；最终再利用神经网络分类程序检查待测线段的影像以判断此待测线段是否存在线段瑕疵。

在一个实施例中，上述利用神经网络分类程序检查待测线段的影像以判断此待测线段是否存在线段瑕疵的步骤，包括：将待测面板影像中包含待测线段的影像区块区分为多个影像子区块；以及将每一影像子区块作为神经网络分类程序的输入数据以使神经网络分类程序判断所输入的影像子区块包含的待测线段的部分是否存在线段瑕疵。