[发明专利]一种芯片的质量检测装置

权利要求书

1.一种芯片的质量检测装置，其特征在于，包括至少两个测试站和控制单元，

至少两个所述测试站以串测的方式对芯片进行的测试为不同的常规测试，所述控制单元基于抽测指数来指示所述测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试，所述质量测试是将一批测试合格的芯片再抽出一部分重新测试，若两次测试结果相同则表明测试机的所述质量测试结果准确；

所述抽测指数的确定方式为，m＝n-a+b，

其中，m表示所述抽测指数，n表示一轮测试芯片的数量；a表示所述测试站的数量；b表示所述测试站的序号，其中，所述测试站的序号为从0开始的整数；

在合格的芯片数量达到所述抽测指数时，与所述抽测指数对应的各个所述测试站对后续进行所述常规测试的芯片进行所述质量测试。

2.根据权利要求1所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在合格的芯片数量达到抽测指数时，所述测试站对当前在测芯片进行质量测试。

3.根据权利要求2所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在合格的芯片的数量达到一轮测试芯片的数量时，所述控制单元指示测试站对第n颗合格芯片重新进行一次质量测试。

4.根据权利要求3所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在最后一个测试站的一轮测试中的最后一个芯片的常规测试和/或质量测试完成后，

第一测试站将新一轮中的芯片的质量测试数据删除。

5.根据权利要求4所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在其中一个测试站的一个芯片的常规测试不合格时，

在常规测试不合格的测试站的测试顺序之前的测试站将同一芯片的质量测试数据删除。

6.根据权利要求5所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在测试不合格的芯片的质量测试数据删除后，至少两个测试站继续对后续的芯片进行常规测试和/或质量测试，直至芯片合格的数量达到一轮测试芯片的数量。

7.根据权利要求6所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，当第一测试站在测第x个芯片的时候，第二测试站正在测第(x-1)颗芯片。