[发明专利]一种掺稀土光纤光暗化测试装置

说明书

本发明公开了一种掺稀土光纤光暗化测试装置，包括依序连接的可见光信号源、无源匹配光纤、包层光滤除器、合束器、被测掺稀土光纤和泵浦光滤除器，合束器的输入端还连接有半导体激光器，可见光信号源发出的可见光束经过包层光滤除器、合束器、被测光纤和泵浦光滤除器和滤波器后进入第一功率探测器，半导体激光器发出的激光经过合束器、被测光纤和泵浦光滤除器后在滤波器处截止。本发明利用可见光通过待测光纤后的功率变化间接推算出待测光纤在激光工作波长处的光暗化损耗，相较于现有技术，能够在更短的时间内完成测试。通过设置包层光滤除器和泵浦光滤除器，能够将来自信号源的包层光和未被吸收转化的泵浦光滤除，从而提升了测试准确度。

技术领域

本发明涉及掺稀土光纤暗化测试技术，尤其涉及一种掺稀土光纤光暗化测试装置。

背景技术

光纤激光器由于具有散热效果好、结构紧凑、易于维护、容易实现高功率单模激光输出的特点，在材料加工、医疗、通信、遥感以及国防安全等方面领域具有瞩目的应用前景。然而在光纤激光器工程化应用过程中，会出现输出功率随时间逐渐下降的现象，即称为光子暗化效应。在光纤激光器中，掺稀土光纤作为产生激光的增益介质，其性能可以说是光纤激光器功率提升最为重要的限制因素。准确评价有源光纤的光暗化性能有助于指导研制高效率、低光子暗化效应的掺稀土光纤。因此，建立一套可靠可信的光暗化测试装置及测试方法是必要的。

现有的普遍方法为将待测光纤接入到光纤激光器中，长时间开机观测激光功率的变化。该方法测试消耗时间长，且测试过程中光纤及光器件有较高的烧毁风险。而现有可见光测试系统往往结构复杂，光学结构稳定性较差，测试系统的可靠性不佳。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试时间短、检测精度高、结构简单的掺稀土光纤暗化测试装置。

以下给出一个或多个方面的简要概述以提供对这些方面的基本理解。此概述不是所有构想到的方面的详尽综览，并且既非旨在指认出所有方面的关键性或决定性要素亦非试图界定任何或所有方面的范围。其唯一的目的是要以简化形式给出一个或多个方面的一些概念以为稍后给出的更加详细的描述之序。

根据本发明的一方面，提供了一种掺稀土光纤光暗化测试装置，包括依序连接的可见光信号源、无源匹配光纤、包层光滤除器、合束器、被测掺稀土光纤和泵浦光滤除器，所述合束器的输入端还连接有半导体激光器，测试时，所述可见光信号源发出的可见光束经过包层光滤除器、合束器、被测光纤和泵浦光滤除器和滤波器后进入第一功率探测器，所述半导体激光器发出的激光经过合束器、被测光纤和泵浦光滤除器后在滤波器处截止。

在一实施例中，该装置的所述包层光滤除器用于滤除所述可见光信号源输出的包层光。

在一实施例中，该装置的所述泵浦光滤除器用于滤除经过所述被测掺稀土光纤后仍未被吸收转化的泵浦光。

在一实施例中，该装置的所述无源匹配光纤和包层光滤除器之间还设置有光波分复用器，所述光波分复用器的一个输出端连接有泵浦纤，所述泵浦纤用于导出返回光。

在一实施例中，该装置的所述波分复用器为光栅型光波分复用器。

在一实施例中，该装置的所述泵浦纤与第二功率探测器连接。

在一实施例中，该装置的所述被测掺稀土光纤的长度为5cm～50cm。

在一实施例中，该装置的所述可见光信号源为红光激光器，所述红光激光器输出的红光波长为630nm～635nm，输出功率为20mW～40mW。

在一实施例中，该装置的所述可见光信号源带有尾纤，所述无源匹配光纤为与所述可见光信号源的尾纤型号相同的光纤。

在一实施例中，该装置的所述半导体激光器带有尾纤，所述半导体激光器的输出功率为150mW～250mW。