[发明专利]消除CT图像金属伪影的方法、装置、介质和电子设备

权利要求书

1.一种消除CT图像金属伪影的方法，其特征在于，包括：

基于预扫描信息，确定受检体中金属的位置；

对包含所述金属的受检体部位进行断层扫描，所述断层扫描包括采用球管X射线扫描和至少一个激光雷达扫描；

获得所述受检部位同一位置对应数量的球管采样值和雷达采样值，其中，所述球管采样值对应的球管采样位置与所述雷达采样值对应的雷达采样位置具有一一对应关系；

根据所述雷达采样值生成第一曲线，根据所述球管采样值生成第二曲线；

基于所述第一曲线校正所述第二曲线，消除所述第二曲线中的金属伪影。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述雷达采样值生成第一曲线，包括：

对雷达每个采样位置的雷达采样值进行归一化处理，获得雷达每个采样位置的归一化值；

基于雷达每个采样位置，对所述归一化值进行拟合处理，生成第一曲线，所述第一曲线包括满足第一曲线方程的第一系数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述球管采样值生成第二曲线，包括：

对球管每个采样位置的球管采样值进行归一化处理，获得球管每个采样位置的归一化值；

基于球管每个采样位置，对所述归一化值进行拟合处理，生成第二曲线，所述第二曲线包括由于金属伪影形成的凹陷。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一曲线校正所述第二曲线，消除所述第二曲线中的金属伪影，包括：

在所述第二曲线中的金属伪影位置，以所述第一曲线方程校正所述第二曲线方程。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述第二曲线中的金属伪影位置，以所述第一曲线方程校正所述第二曲线方程，包括：

当所述球管采样数量值数量为M，所述雷达采样值数量为N时，M、N为自然数且MN，以第一曲线方程下，第一横坐标确定的第一纵坐标值，作为第二曲线方程下第二横坐标对应的第二纵坐标值，其中第二横坐标为第一横坐标的M/N倍；

遍历金属伪影对应的的所有第二横坐标值，确定所有所述第二横坐标值对应的第二纵坐标值；

拟合所有第二纵坐标值，确定金属伪影对应的第二曲线方程。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述激光雷达数量为多个，所述多个激光雷达分布于与球管扫描相对应的位置。

7.一种消除CT图像金属伪影的装置，其特征在于，包括：

确定单元，用于基于预扫描信息，确定受检体中金属的位置；

扫描单元，用于对包含所述金属的受检体部位进行断层扫描，所述断层扫描包括采用球管X射线扫描和至少一个激光雷达扫描；

获取单元，用于获得所述受检部位同一位置对应数量的球管采样值和雷达采样值，其中，所述球管采样值对应的球管采样位置与所述雷达采样值对应的雷达采样位置具有一一对应关系；

生成单元，用于根据所述雷达采样值生成第一曲线，根据所述球管采样值生成第二曲线；

消除单元，用于基于所述第一曲线校正所述第二曲线，消除所述第二曲线中的金属伪影。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的方法。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1至6中任一项所述的方法。