[发明专利]Fe基非晶合金带的卷绕体有效
申请号: | 202110610297.3 | 申请日: | 2018-02-14 |
公开(公告)号: | CN113385648B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 砂川淳 | 申请(专利权)人: | 日立金属株式会社 |
主分类号: | B22D11/06 | 分类号: | B22D11/06;C22C45/02;H01F1/153 |
代理公司: | 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 | 代理人: | 魏彦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | fe 基非晶 合金 卷绕 | ||
1.一种Fe基非晶合金带的卷绕体,其中,通过将连续地制造的Fe基非晶合金带卷取到一个或多个卷取辊上而形成,
从所述Fe基非晶合金带的距卷绕体的卷绕开始侧的端部3000m~4200m的范围开始,朝向长度方向每隔20mm连续地切断而得到20片试样,由此获取20片所述Fe基非晶合金带的宽度方向变为长边且长度方向变为短边的短条形的初期合金带试样,此时,所述初期合金带试样的占空系数即LF[S]是87%~94%,通过下述WC的测定方法对将20片所述初期合金带试样层叠而形成的层叠体进行测定而得到的WC[S]是5μm/20片~40μm/20片,
从所述Fe基非晶合金带的距卷绕体的卷绕结束侧的端部1m的范围开始,朝向长度方向每隔20mm连续地切断而得到20片试样,由此获取20片所述Fe基非晶合金带的宽度方向变为长边且长度方向变为短边的短条形的末期合金带试样,此时,所述末期合金带试样的占空系数即LF[E]相对于所述初期合金带试样的占空系数即LF[S]的变化率即(LF[E]-LF[S])/LF[S]×100在-2%~+2%,通过下述WC的测定方法对将20片所述末期合金带试样层叠而形成的层叠体进行测定而得到WC[E]相对于所述WC[S]的变化率即(WC[E]-WC[S])/WC[S]×100是-12%~+80%,
所述WC的测定方法为:针对将20片短条形的合金带试样层叠而形成的层叠体中的长边方向的一端部IB与另一端部OB,以使用φ16mm的测砧的千分尺测定各自的3个点即距端点0mm~16mm的范围、距端点10mm~26mm的范围以及距端点20mm~36mm的范围的厚度,将一端部侧的最大值即IBmax与另一端部侧的最小值即OBmin的差以及一端部侧的最小值即IBmin与另一端部侧的最大值即OBmax的差中大的一方设定为WC,此外,将对所述初期合金带试样测定的WC设定为WC[S],将对所述末期合金带试样测定的WC设定为WC[E],
其中,
WC:楔形系数。
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