[发明专利]一种电子设备发热量的监控方法、系统及装置

权利要求书

1.一种电子设备发热量的监控方法，其特征在于，所述方法包括：

从待检测设备的发热数据中，提取至少两个发热特征矢量；

根据每一所述发热特征矢量的发热参数，对所述至少两个发热特征矢量进行筛选，得到筛选结果集合；

确定与筛选结果集合中的筛选结果相匹配的预设标准集合；

确定所述预设标准集合中每一预设标准与所述发热数据之间的关联性；

根据所述关联性，对所述预设标准集合进行筛选，得到待检测的目标发热量集合；

其中，发热特征矢量表示相关设备在不同时刻的发热量；

其中，所述从待检测设备的发热数据中，提取至少两个发热特征矢量，包括：

从所述发热数据中，提取表征所述待检测设备的发热范围的发热特征矢量和表征所述待检测设备的发热目标的发热特征矢量，以得到所述至少两个发热特征矢量；

其中，所述根据所述关联性，对所述预设标准集合进行筛选，得到待检测的目标发热量集合，包括：

对所述预设标准与所述发热数据之间的关联性进行排列分布，得到第二排列分布结果；

根据所述第二排列分布结果，确定第二筛选权重；

采用所述第二筛选权重对所述预设标准集合进行筛选，得到所述待检测的目标发热量集合；

其中，所述根据所述第二排列分布结果，确定第二筛选权重，包括：

确定所述第二排列分布结果中每一分布结果与第三预设修正量的第二误差；

确定每一所述第二误差与第四预设修正量的第二占比；

基于所述第二占比和预设占比，确定所述第二筛选权重。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每一所述发热特征矢量的发热参数，对所述至少两个发热特征矢量进行筛选，得到筛选结果集合，包括：

对所述发热特征矢量的发热参数进行排列分布，得到第一排列分布结果；

根据所述第一排列分布结果，确定第一筛选权重；

采用所述第一筛选权重对所述至少两个发热特征矢量进行筛选，得到筛选结果集合。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一排列分布结果，确定第一筛选权重，包括：

确定所述第一排列分布结果中的每一分布结果与第一预设修正量的第一误差；

确定每一所述第一误差与第二预设修正量的第一占比；

基于所述第一占比和预设占比，确定所述第一筛选权重。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述预设标准集合中每一预设标准与所述发热数据之间的关联性，包括：

从所述发热数据中，确定与所述预设标准相匹配的发热特征矢量；

基于所述相匹配的发热特征矢量的系数，确定所述预设标准与所述发热数据之间的关联性。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述预设标准集合中每一预设标准与所述发热数据之间的关联性，包括：

确定所述发热数据中与所述预设标准相匹配的发热特征矢量的发热参数；

基于所述相匹配的发热特征矢量的发热参数，确定所述预设标准与所述发热数据之间的关联性。

6.一种电子设备发热量的监控系统，其特征在于，包括互相之间通信的处理器和存储器，所述处理器用于从所述存储器中读取计算机程序并执行，以实现权利要求1-5任一项所述的方法。

7.一种电子设备发热量的监控装置，其特征在于，包括：

特征提取模块，用于从待检测设备的发热数据中，提取至少两个发热特征矢量；

结果筛选模块，用于根据每一所述发热特征矢量的发热参数，对所述至少两个发热特征矢量进行筛选，得到筛选结果集合；

结果确定模块，用于确定与筛选结果集合中的筛选结果相匹配的预设标准集合；

关联确定模块，用于确定所述预设标准集合中每一预设标准与所述发热数据之间的关联性；

发热筛选模型，用于根据所述关联性，对所述预设标准集合进行筛选，得到待检测的目标发热量集合；

其中，发热特征矢量表示相关设备在不同时刻的发热量；

其中，所述从待检测设备的发热数据中，提取至少两个发热特征矢量，包括：

从所述发热数据中，提取表征所述待检测设备的发热范围的发热特征矢量和表征所述待检测设备的发热目标的发热特征矢量，以得到所述至少两个发热特征矢量；

其中，所述根据所述关联性，对所述预设标准集合进行筛选，得到待检测的目标发热量集合，包括：

对所述预设标准与所述发热数据之间的关联性进行排列分布，得到第二排列分布结果；

根据所述第二排列分布结果，确定第二筛选权重；

采用所述第二筛选权重对所述预设标准集合进行筛选，得到所述待检测的目标发热量集合；

其中，所述根据所述第二排列分布结果，确定第二筛选权重，包括：

确定所述第二排列分布结果中每一分布结果与第三预设修正量的第二误差；

确定每一所述第二误差与第四预设修正量的第二占比；

基于所述第二占比和预设占比，确定所述第二筛选权重。