[发明专利]一种位移传感器标定装置及其测定方法

权利要求书

1.一种位移传感器标定装置，其特征在于：该标定装置包括：底座(2)，底座(2)上设有用于支撑千分尺(1)的千分尺支架(3)和用于支撑高精度位移传感器(8)的传感器支架(4)，所述千分尺支架(3)和所述传感器支架(4)的底部都设有滑槽，用于在底座(2)上水平滑动，并可通过锁紧螺栓(6)定位在底座(2)上；

千分尺(1)平行于底座(2)且垂直的设于千分尺支架(3)的立板上；

高精度位移传感器(8)平行于底座(2)且垂直的设于传感器支架(4)的立板上；

所述千分尺支架的立板顶部和传感器支架的立板顶部均设有锁紧螺栓用于定位千分尺(1)和高精度位移传感器(8)；

所述高精度位移传感器(8)连接动态数据采集仪(9)，动态数据采集仪(9)连接电脑(10)；连接完成进行电桥平衡，电桥平衡后标定高精度位移传感器(8)。

2.一种如权利要求1所述的位移传感器标定装置的测定方法，其特征在于：该方法包括标定过程和校核过程；

所述标定过程为：将高精度位移传感器(8)固定在传感器支架(4)的立板上，根据该标定装置上千分尺(1)的量程来确定所要标定的高精度位移传感器(8)的起、止距离，并将高精度位移传感器(8)设于起始位置，再匀速缓慢沿逆时针旋转千分尺(1)的1圈，重复上述操作，动态数据采集仪(9)得到标定曲线，由标定曲线得到y_imc，然后以y_imc为横坐标，高精度位移传感器(8)的实际位移为纵坐标拟合出一条线，此线的斜率为Y₁。

3.根据权利要求2所述的位移传感器标定装置的测定方法，其特征在于：

所述校核过程为：将高精度位移传感器(8)固定在传感器支架(4)上，高精度位移传感器(8)的初始值为标定过程的末端数值，匀速缓慢沿顺时针旋转千分尺(1)1圈，重复上述操作，动态数据采集仪(9)得到校核曲线，由校核曲线得到y_imc’，如上述拟合出一条线，此线的斜率即为Y₂。

4.根据权利要求3所述的位移传感器标定装置的测定方法，其特征在于：

将所述标定的结果Y₁与校核的结果Y₂取平均值，得到高精度位移传感器(8)的Y因子(Y＝(Y₁+Y₂)/2)。

5.根据权利要求1所述的位移传感器标定装置的测定方法，其特征在于：

所述千分尺支架(3)与千分尺(1)的连接处设有圆孔，通过该圆孔能够伸入千分尺(1)的螺杆；

所述传感器支架(4)与高精度位移传感器(8)的连接处设有圆孔(5)，通过该圆孔(5)能够伸入高精度位移传感器(8)。