[发明专利]基于太阳噪声的无线电测控设备校相方法及装置

权利要求书

1.一种基于太阳噪声的无线电测控设备校相方法，其特征在于，包括：

确定天线指向太阳中心的初始方位角度和初始俯仰角度，并根据所述初始方位角度和所述初始俯仰角度控制所述天线指向太阳中心；

在所述初始方位角度和所述初始俯仰角度的基础上，对所述天线的指向进行调整，得到满足预设条件的方位角度偏向值和俯仰角度偏向值；

根据所述方位角度偏向值和所述俯仰角度偏向值，对所述天线进行偏置设置，并分别在所述方位角度偏向值下和在所述俯仰角度偏向值下进行校相，得到方位校相值和俯仰校相值；

根据所述方位校相值对方位相位值进行更新，并根据所述俯仰校相值对俯仰相位值进行更新；

所述确定天线指向太阳中心的初始方位角度和初始俯仰角度，包括：

根据所述天线的三轴坐标数据，并采用射电星位置计算模块计算所述天线指向太阳中心的初始方位角度和初始俯仰角度；

所述预设条件包括：

所述天线在俯仰角度不变，在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的正偏时对应的信号功率与在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的负偏时对应的信号功率之间的差值小于预设值；

所述天线在方位角度不变，在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的正偏时对应的信号功率与在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的负偏时对应的信号功率之间的差值小于预设值；

所述在所述方位角度偏向值下和在所述俯仰角度偏向值下进行校相，包括：

将所述天线的俯仰角度保持在所述初始俯仰角度，分别在天线在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的正偏时和在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的负偏时进行校相，得到方位正偏校相值和方位负偏校相值；

根据所述方位正偏校相值和所述方位负偏校相值，确定所述方位校相值；

将所述天线的方位角度保持在所述初始方位角度，分别在天线在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的正偏时和在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的负偏时进行校相，得到俯仰正偏校相值和俯仰负偏校相值；

根据所述俯仰正偏校相值和所述俯仰负偏校相值，确定所述俯仰校相值；

所述根据所述方位正偏校相值和所述方位负偏校相值，确定所述方位校相值，包括：将所述方位正偏校相值和所述方位负偏校相值求平均，得到所述方位校相值；

所述根据所述俯仰正偏校相值和所述俯仰负偏校相值，确定所述俯仰校相值，包括：将所述俯仰正偏校相值和所述俯仰负偏校相值求平均，得到所述俯仰校相值；

根据太阳展源效应和极化变化，将太阳校相分为以下两个情况：

(1)宽波束天线校相方案

进行多次校相，得到多组方位校相值和俯仰校相值，然后分别求平均；在每一组校相结果中包括方位差斜率和俯仰差斜率，假设第i次校相的结果为(θ_Ai，k_Ai，θ_Ei，k_Ei)，则最终校相结果为：

式中，n为总的校相次数，n≥5；θ_A为方位校相值；k_A为方位差斜率；θ_E为俯仰校相值；k_E为俯仰差斜率；

(2)窄波束天线校相方案

在一天内按照平均时间间隔多次校相，并取平均值使用，第i天中从10时开始至16时结束，每隔2h进行一次校相，一天中共有4次校相结果，第j次校相结果为(θ_Aij，k_Aij，θ_Eij，k_Eij)，1≤j≤4，最终的校相结果为：

式中，n为总的校相天数，n≥3。

2.一种基于太阳噪声的无线电测控设备校相装置，其特征在于，包括：

确定模块，用于确定天线指向太阳中心的初始方位角度和初始俯仰角度，并根据所述初始方位角度和所述初始俯仰角度控制所述天线指向太阳中心；

调整模块，用于在所述初始方位角度和所述初始俯仰角度的基础上，对所述天线的指向进行调整，得到满足预设条件的方位角度偏向值和俯仰角度偏向值；

校相模块，用于根据所述方位角度偏向值和所述俯仰角度偏向值，对所述天线进行偏置设置，并分别在所述方位角度偏向值下和在所述俯仰角度偏向值下进行校相，得到方位校相值和俯仰校相值；

更新模块，用于根据所述方位校相值对方位相位值进行更新，并根据所述俯仰校相值对俯仰相位值进行更新；

所述确定模块具体用于：根据所述天线的三轴坐标数据，并采用射电星位置计算模块计算所述天线指向太阳中心的初始方位角度和初始俯仰角度；

所述预设条件包括：

所述天线在俯仰角度不变，在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的正偏时对应的信号功率与在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的负偏时对应的信号功率之间的差值小于预设值；

所述天线在方位角度不变，在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的正偏时对应的信号功率与在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的负偏时对应的信号功率之间的差值小于预设值；

所述校相模块包括：

方位校相单元，用于将所述天线的俯仰角度保持在所述初始俯仰角度，分别在天线在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的正偏时和在所述初始方位角度的基础上进行方位角度偏向值的负偏时进行校相，得到方位正偏校相值和方位负偏校相值；

第一确定单元，用于根据所述方位正偏校相值和所述方位负偏校相值，确定所述方位校相值；

俯仰校相单元，用于将所述天线的方位角度保持在所述初始方位角度，分别在天线在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的正偏时和在所述初始俯仰角度的基础上进行俯仰角度偏向值的负偏时进行校相，得到俯仰正偏校相值和俯仰负偏校相值；

第二确定单元，用于根据所述俯仰正偏校相值和所述俯仰负偏校相值，确定所述俯仰校相值；

所述第一确定单元具体用于：将所述方位正偏校相值和所述方位负偏校相值求平均，得到所述方位校相值；所述第二确定单元具体用于：将所述俯仰正偏校相值和所述俯仰负偏校相值求平均，得到所述俯仰校相值；

根据太阳展源效应和极化变化，将太阳校相分为以下两个情况：

(1)宽波束天线校相方案

进行多次校相，得到多组方位校相值和俯仰校相值，然后分别求平均；在每一组校相结果中包括方位差斜率和俯仰差斜率，假设第i次校相的结果为(θ_Ai，k_Ai，θ_Ei，k_Ei)，则最终校相结果为：

式中，n为总的校相次数，n≥5；θ_A为方位校相值；k_A为方位差斜率；θ_E为俯仰校相值；k_E为俯仰差斜率；

(2)窄波束天线校相方案

在一天内按照平均时间间隔多次校相，并取平均值使用，第i天中从10时开始至16时结束，每隔2h进行一次校相，一天中共有4次校相结果，第j次校相结果为(θ_Aij，k_Aij，θ_Eij，k_Eij)，1≤j≤4，最终的校相结果为：

式中，n为总的校相天数，n≥3。