[发明专利]一种DFN微型器件测试分选设备

说明书

本发明公开了一种DFN微型器件测试分选设备，具体包括底座和安装于底座的分度装置；底座上沿分度装置的旋转方向依次安装有上料装置、引脚位置检测装置、转向装置、测试装置、NG下料装置和封装装置；分度装置用于流转DFN微型器件；引脚位置检测装置包括引脚检测第一工位、引脚检测第二工位、引脚检测第三工位、传送组件、阻光带组件、透光带组件和感光组件。具体地，通过令DFN微型器件、阻光带、透光带相叠合，令阻光带上的不透光涂料粘在透光带上，而DFN微型器件表面上的前序加工时留下的文字刻痕则会使透光带上保留有对应的透光区域；最终通过判断透光带的透光区域位置，判断DFN微型器件的引脚分布，提高了检测精度，从而提高了检测效率。

技术领域

本发明涉及DFN微型器件分选领域，尤其涉及一种DFN微型器件测试分选设备。

背景技术

随着电子产品的发展，例如笔记本电脑、手机、迷你CD、掌上电脑、CPU、数码照相机等消费类电子产品越来越向小型化方向发展。其中，作为核心的DFN微型器件等芯片起到关键的作用，其中，DFN微型器件在成品工序中包括一道分选工序，分选工序的作用是将不合格的DFN微型器件筛除。

现有技术中主要采用振动盘将DFN微型器件输向分选设备中，其中，振动盘虽然能够保证DFN微型器件的第一面朝上且引脚方位统一，但对于引脚对称分布的DFN微型器件而言，容易出现其中一个DFN微型器件与其他DFN微型器件的引脚分布不同的现象(即视觉上引脚位置是正确的，但是实际上是引脚错误的情况)，接着由分选设备的检测装置和拨位装置将DFN微型器件的引脚分布统一，便于分选设备中的检测装置对DFN微型器件进行检测，从而避免出现因为DFN微型器件的引脚分布混乱引起的检测装置检测错误的现象。

其中，现有技术中的检测装置主要采用两个形式，一种是利用CCD检测DFN微型器件的形状从而判断DFN微型器件的位置，但是对于引脚对称分布的DFN微型器件而言，无法判断其引脚是否错位；另一种是电性检测，其通过提前检测对DFN微型器件进行接电，通过判断是否导通来确定DFN微型器件的引脚是否错位。采用电性检测的方式虽然可以针对引脚对称的DFN微型器件进行引脚位置检测，但其在检测过程中容易出现接触不良的现象，不利于对DFN微型器件的引脚检测，降低了分选设备的分选精度，并且采用电性检测的方式需要确保DFN微型器件的与检测装置的检测头接触才能判断，效率低下，即需要研发一种分选设备能够高精度地、高效地完成对DFN微型器件的引脚位置检测。

发明内容

本发明的目的在于提供一种DFN微型器件测试分选设备，来解决目前分选设备分选精度低、效率低下的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种DFN微型器件测试分选设备，包括底座和安装于所述底座的分度装置；

所述底座上沿所述分度装置的旋转方向依次安装有上料装置、引脚位置检测装置、转向装置、测试装置、NG下料装置和封装装置；所述分度装置用于流转DFN微型器件；

所述引脚位置检测装置包括引脚检测第一工位、引脚检测第二工位和引脚检测第三工位；

所述引脚检测第一工位和所述引脚检测第二工位之间设置有用于传送DFN微型器件的传送组件；所述传送组件能在所述引脚检测第一工位和所述引脚检测第二工位之间移动；

所述引脚检测第二工位上设置有阻光带组件，所述阻光带组件内设置有涂有不透光涂料的阻光带；

所述引脚检测第二工位和所述引脚检测第三工位之间设置有用于透光带组件，所述透光带组件内设置有透光的透光带且所述透光带组件能在所述引脚检测第二工位和所述引脚检测第三工位之间移动；

所述引脚检测第三工位上设置有感光组件，所述感光组件用于检测所述透光带的透光率。