[发明专利]检测系统的调节方法及检测系统

说明书

本申请公开了一种检测系统的调节方法。检测系统包括多个探测装置，及多个光线的出射面，每个探测装置包括入光面，多个出射面射出的光线一一对应地进入多个入光面，每个探测装置收集至少部分从入光面进入的光线以形成检测信息；调节方法包括：依据多个探测装置采集的检测信息的特征值，计算适用于所有探测装置的目标特征值；针对每个探测装置，获取采集的检测信息满足目标特征值时，相对应的出射面与探测装置的入光面之间的目标光程；及调节每个出射面与相对应的入光面之间的相对位置，以使出射面与相对应的入光面之间的光程满足目标光程。本申请还公开了一种检测系统。

技术领域

本申请涉及工业检测技术领域，特别涉及一种检测系统的调节方法及检测系统。

背景技术

在检测某些器件时，例如检测面板时，由于器件的待检面积可能较大，通常采用多个探测装置对器件的不同位置同时进行视觉检测。然而，由于多个探测装置之间的硬件性能不可避免地存在差异，不同探测装置拍摄的图像在亮度、灰度等特征值上存在较大的差异，不同探测装置拍摄的图像在特征值上的一致性较差，导致后续不便于对不同的图像进行统一处理。

发明内容

本申请实施方式提供了一种检测系统的调节方法及检测系统。

本申请实施方式的检测系统的调节方法用于检测系统，所述检测系统包括多个探测装置，及多个光线的出射面，每个所述探测装置包括入光面，多个所述出射面射出的光线一一对应地进入多个所述入光面，每个所述探测装置收集至少部分从入光面进入的光线以形成检测信息；所述调节方法包括：依据多个所述探测装置采集的检测信息的特征值，计算适用于所有所述探测装置的目标特征值；针对每个所述探测装置，获取采集的检测信息满足所述目标特征值时，相对应的所述出射面与所述探测装置的入光面之间的目标光程；及调节每个所述出射面与相对应的所述入光面之间的相对位置，以使所述出射面与相对应的所述入光面之间的光程满足所述目标光程。

在某些实施方式中，所述探测装置采集的检测信息包括图像，所述依据多个所述探测装置采集的检测信息的特征值，计算适用于所有所述探测装置的目标特征值，包括：多次调节相对应的所述出射面与所述入光面之间的调节光程；分别在不同的调节光程下，利用所述探测装置采集图像以得到一组图像；及依据多个所述探测装置采集到的多组图像的特征值，计算适用于所有所述探测装置的目标特征值。

在某些实施方式中，所述特征值为图像像素的平均灰度值，所述依据多个所述探测装置采集到的多组图像的特征值，计算适用于所有所述探测装置的目标特征值，包括：计算每组图像中，所述特征值最大的值作为备选值，以得到多组图像的多个备选值；及计算多个所述备选值中最小的值，作为所述目标特征值。

在某些实施方式中，所述针对每个所述探测装置，获取采集的检测信息满足所述目标特征值时，相对应的所述出射面与所述探测装置的入光面之间的目标光程，包括：获取计算到每一个所述备选值时，相对应的所述出射面与所述入光面之间的光程为初始光程；在预设的探测装置的虚拟模型中，调节虚拟出射面与虚拟入光面之间的光程为所述初始光程，并记录虚拟检测面上的初始亮度；依据所述初始亮度，及所述备选值与所述目标特征值的比值，计算目标亮度；及在所述虚拟模型中，调节所述虚拟出射面与所述虚拟入光面之间的光程，直至记录到所述虚拟检测面上的亮度为目标亮度时，以所述虚拟出射面与所述虚拟入光面之间的当前光程作为所述目标光程。

在某些实施方式中，所述针对每个所述探测装置，获取采集的检测信息满足所述目标特征值时，相对应的所述出射面与所述探测装置的入光面之间的目标光程，包括：对于每一组相对应的所述出射面与所述入光面，多次调节所述出射面与所述入光面之间的调节光程，并利用所述探测装置采集检测信息；计算所述探测装置采集的检测信息的特征值；及直至所述探测装置采集的检测信息的特征值为所述目标特征值时，以当前的所述调节光程作为当前的所述探测装置的目标光程。