[发明专利]一种压电片阻抗特性测量装置及其测量方法

权利要求书

1.一种压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：包括载片测试台，载片测试台顶部端面中设有测试台端面通孔，载片测试台顶部端面下侧设有转动电机，转动电机轴端固定安装有用于放置压电片的转盘，转盘以其顶部端面与载片测试台顶部端面相平齐的方式设置于测试台端面通孔中；载片测试台外侧设有色标传感器，色标传感器所发出的光信号能照射至放置于转盘上的压电片的侧壁上；测试台端面通孔上方处设有探针推杆，探针推杆的杆端固定连接有用于实现压电片阻抗特性测量的测量探针；还包括进料机构，进料机构包括进料推杆，进料推杆的轴端上固定连接有进料推板，沿进料推杆推移的直线方向上并位于载片测试台顶部端面上方处设有凸台，凸台上设有凸台凹槽, 凸台凹槽内插入安装有进料筒，进料筒顶部端面与凸台上侧端面相平齐；所述的载片测试台外侧设有切换机构，切换机构包括切换推杆和切换推板，切换推杆的轴端上固定安装有切换推板；载片测试台顶部端面上设置有测试台端面第一凹槽, 切换推板下端面能够与测试台端面第一凹槽上端面相抵接，切换推板上贯穿设有切换推板通孔,测试台端面第一凹槽上贯穿设有凹槽通孔；还包括出料机构，出料机构包括出料推杆，出料推杆的轴端上固定连接有出料推板，沿出料推杆推移的直线方向上并位于载片测试台顶部端面下侧位置处设有废料筒和出料筒，废料筒设置于凹槽通孔正下方位置处，载片测试台顶部端面上并位于测试台端面第一凹槽的旁侧位置处设置有测试台端面第二凹槽, 测试台端面第二凹槽内插入安装有出料筒，出料筒顶部端面与载片测试台顶部端面相平齐；所述的出料推板上设有出料推板通孔和推板直槽，推板直槽一端贯穿出料推板，推板直槽另一端与出料推板通孔相连通；出料推板上的出料推板通孔与测试台端面通孔同轴心重合时，色标传感器中的光源部与出料推板上的推板直槽两相正对。

2.按照权利要求1所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：所述的测量探针底部具有两个极性相反的第一探针电极端和第二探针电极端，每个电极端内部设置有弹簧。

3.按照权利要求1所述的压电片阻抗特性测量装置，其特征在于：所述的载片测试台顶部端面的外侧上方位置处分别设有第一激光位移传感和第二激光位移传感，第一激光位移传感中的激光发射端面倾斜侧对转盘上侧端面，第二激光位移传感中的激光发射端面倾斜侧对出料筒筒腔内侧。

4.一种用于权利要求1-3所述压电片阻抗特性测量装置的测量方法，其特征在于：包括如下测量执行步骤

A1、通过进料机构将存储在进料筒筒腔内部的压电片向上顶出；

A2、通过出料推杆推动出料推板向载片测试台所处位置方向移动，直至出料推板通孔与测试台端面通孔同轴心重合；

A3、通过进料推杆推动进料推板和压电片一同向出料推板所处位置方向移动，直至压电片被推入出料推板通孔中，进料推杆带

动进料推板反向移动；

A4、通过测试台端面通孔中设置有转盘，压电片经由出料推板通孔而落于转盘上，转盘电机带动转盘和压电片转动，色标传感器中的光源部发射出的光信号沿出料推板上的推板直槽射至压电片的侧壁上，当色标传感器检测到其所接收到的光信号为经由压电片侧壁上的电极层所散射回的光信号时，转动电机停止转动，转盘和压电片同步保持停止转动；

A5、通过探针推杆带动测量探针向压电片所处位置方向移动，直至测量探针上的两个电极端分别与压电片上的两个电极部相连，外部阻抗特性测量电路通过测量探针实现与压电片电性连接，通过外部阻抗特性测量电路获取该压电片的相关阻抗特性数据以完成压电片的阻抗特性测量；

A6、检测完成后，若该压电片阻抗特性符合要求所需，出料推杆推动出料推板和压电片一同向出料筒所处位置方向移动，直至压电片落入出料筒内；

A7、检测完成后，若该压电片阻抗特性未符合要求所需，则通过先行驱动切换推杆向外伸出并带动切换推板移动，直至切换推板通孔与第一凹槽中的凹槽通孔同轴心重合，出料推板推动压电片落入废料筒内。

5.如权利要求4所述的测量方法，其特征在于还包括如下检测步骤：

B1、压电片置于转盘上时，通过第一激光位移传感器所发出的激光由原先的照射至转盘上侧端面改变为照射至压电片上侧端面，使得第一激光位移传感器所测量出的距离发生改变，从而控制转盘开始转动。

6.如权利要求4所述的测量方法，其特征在于还包括如下检测步骤：

C1、探针推杆带动测量探针向压电片所处位置方向移动时，探针推杆可采用由快至慢的变速方式推动测量探针移动，测量探针靠近压电片时，测量探针底部的电极端能够以较为缓慢的速度和较小的碰撞与压电片相抵接。