[发明专利]TGS透射图像重建方法、装置、介质和电子设备在审
申请号: | 202110632365.6 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN113284208A | 公开(公告)日: | 2021-08-20 |
发明(设计)人: | 郜强;何汉涛;许小明;程毅梅;步立新;张文良;王燕伶;李秀娥;司宇;祝利群;王思佳 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 曹寒梅 |
地址: | 102413 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tgs 透射 图像 重建 方法 装置 介质 电子设备 | ||
1.一种TGS透射图像重建方法,其特征在于,包括:
获取TGS透射测量数据,所述TGS透射测量数据是对被测每层样品进行TGS透射测量而得到的数据,所述被测每层样品被划分成N×N个体素,而且所述被测每层样品的周围分布有密度已知且密度分布均匀的n个标准体素,其中,N为正整数,1<n≤4×N;
采用透射重建算法对所述TGS透射测量数据进行迭代计算;
在收敛条件满足时,终止所述迭代计算,得到所述被测样品体素的线衰减系数,其中,所述收敛条件与所述标准体素的线衰减系数相关。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述收敛条件为:
连续两次所述迭代计算的迭代结果的相对变化率ε1不大于第一预设阈值,而且收敛终止计算判别限值ε2不大于第二预设阈值,其中:
其中,μi标测是第i个所述标准体素的、采用所述透射重建算法计算得到的线衰减系数测量分析计算值;μi标是第i个所述标准体素的线衰减系数标称值。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在所述收敛条件不满足的情况下,若所述迭代计算的次数达到计算次数限值,则终止所述迭代计算。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
基于所述标准体素的线衰减系数,计算校正因子;
采用所述校正因子对在所述计算次数限值时得到的被测样品体素线衰减系数测量分析计算值进行校正。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述校正因子为:
其中,k是所述校正因子;μi标测_终止是第i个所述标准体素的、采用所述透射重建算法在所述计算次数限值时计算得到的线衰减系数测量分析计算值;μi标是第i个所述标准体素的线衰减系数标称值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述n个标准体素均匀分布在所述被测每层样品的四周。
7.一种TGS透射图像重建装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取TGS透射测量数据,所述TGS透射测量数据是对被测每层样品进行TGS透射测量而得到的数据,所述被测每层样品被划分成N×N个体素,而且所述被测每层样品的周围分布有密度已知且密度分布均匀的n个标准体素,其中,N为正整数,1<n≤4×N;
计算模块,用于采用透射重建算法对所述TGS透射测量数据进行迭代计算;
终止模块,用于在收敛条件满足时,终止所述迭代计算,得到所述被测样品体素的线衰减系数,其中,所述收敛条件与所述标准体素的线衰减系数相关。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述收敛条件为:
连续两次所述迭代计算的迭代结果的相对变化率ε1不大于第一预设阈值,而且收敛终止计算判别限值ε2不大于第二预设阈值,其中:
其中,μi标测是第i个所述标准体素的、采用所述透射重建算法计算得到的线衰减系数测量分析计算值;μi标是第i个所述标准体素的线衰减系数标称值。
9.一种非临时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述方法的步骤。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:
存储器,其上存储有计算机程序;
处理器,用于执行所述存储器中的所述计算机程序,以实现权利要求1-6中任一项所述方法的步骤。
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