[发明专利]多功能高分辨透射光栅X射线谱仪在审

专利信息
申请号: 202110632692.1 申请日: 2021-06-07
公开(公告)号: CN113433151A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 王浩;蒋康男;柯林佟;冯珂;栾仕霞;王文涛 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 多功能 分辨 透射 光栅 射线
【权利要求书】:

1.一种多功能高分辨透射光栅X射线谱仪,包括由室壁和两端装有前法兰(7-1)和后法兰(7-2)所构成的真空室(7),在所述的真空室(7)内底上置有面包板(7-3),在所述的面包板(7-3)上由所述的前法兰(7-1)至所述的后法兰(7-2)依次设置前光阑组件(2)、滤膜组件(3)、X射线晶体准直管组件(4)、多功能透射光栅组件(5)和后光阑组件(6),在所述的后法兰(7-2)之后设置CCD(8),其特征在于,

所述的前光阑组件(2)由底座(2-1)与前光阑(2-2)构成,所述的底座(2-1)设置在所述的面包板(7-3)上,所述的前光阑(2-2)的光阑平面与光轴垂直;

所述的滤膜组件(3)由底座(3-1)、3个薄膜孔(3-2)、连接孔(3-3)和带电机的滤膜控制系统(3-4)构成,所述的底座(3-1)上有3个薄膜孔(3-2),3个薄膜孔(3-2)的滤膜厚度依次为0,50μm,100μm,所述的底座(3-1)通过所述的连接孔(3-3)与所述的带电机的滤膜控制系统(3-4)相连,由滤膜控制系统(3-4)的电机控制所述的底座(3-1)垂直于光轴的左右方向运动,所述的薄膜孔(3-2)的平面与光轴垂直;

所述的X射线晶体准直管组件(4)由X射线晶体准直管(4-1)、夹持底座(4-2)和带电机的准直管控制系统(4-3)组成,所述的夹持底座(4-2)与所述的带电机的准直管控制系统(4-3)连接,由所述的准直管控制系统(4-3)的电机控制其垂直光轴方向左右运动,所述的X射线晶体准直管(4-1)的输出端的截面与光轴垂直;

所述的多功能透射光栅组件(5)由底座(5-1)、样品台1(5-2)、透射光栅组(5-3)、样品台2(5-4)和带电机的多维控制系统(5-5)构成,所述的底座(5-1)与所述的带电机的多维控制系统(5-5)连接,由多维控制系统(5-5)的电机控制所述的底座(5-1)垂直于光轴的上下或左右运动,光栅或样品台的平面与光轴垂直;

所述的后光阑组件(6)由底座(6-1)与后光阑(6-2)组成,所述的底座(6-1)固定在所述的真空室(7)内面包板(7-3)上,所述的后光阑(6-2)的平面与光轴垂直;

所述的前光阑(2-2)平面的中心、所述的薄膜孔(3-2)的中心、所述的X射线晶体准直管(4-1)的输出端的截面的中心、所述的透射光栅组(5)的中心和所述的后光阑(6-2)的中心均等高且共光轴;

在所述的真空腔体的侧面共设3个电机控制按钮,分别与所述的滤膜控制系统(3-4)、准直管控制系统(4-3)和多功能透射光栅的多维控制系统(5-5)相连;在所述的真空腔体的上方设有2个观察窗,通过电机控制按钮的调整,在所述的前法兰(7-1)之前的X射线源发射的X射线(1)可依次通过所述的前法兰(7-1)、所述的前光阑(2-2)平面的中心、薄膜孔(3-2)的中心、所述的X射线晶体准直管(4-1)的输出端的截面的中心、所述的透射光栅组(5-3)的中心、所述的后光阑(6-2)平面的中心、后法兰(7-2)射向所述的CCD(8)。

2.根据权利要求1所述的多功能高分辨透射光栅X射线谱仪,其特征在于所述前光阑组件参数为光阑(2-2)外直径30mm,工作直径1mm,。

3.根据权利要求1所述的多功能高分析透射光栅X射线谱仪,其特征在于所述滤膜组件(3)的底座(3-1)的大小为80mm×40mm×2mm,底座(3-1)上有3个薄膜孔(3-2),每个薄膜孔(3-2)的直径为20mm,3个滤膜的厚度依次为0,50μm,100μm。

4.根据权利要求1所述的多功能高分析透射光栅X射线谱仪,其特征在于所述的X射线晶体准直管(4-1)输入端直径为20mm,输出端直径为0.5mm,准直管长度为50mm。

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