[发明专利]显示面板的检测方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明公开了一种显示面板的检测方法、装置、设备和存储介质，方法包括获取所述显示面板的显示区的定位信息；将所述显示区的定位信息与预设的所述显示区的基准定位信息进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果，确定所述显示面板的水平信息，实现了在进行Demura补偿工艺时，对显示面板的水平信息的检测，以便在显示面板的水平信息符合拍摄要求的情况下，拍摄图像，降低拍摄的图像产生摩尔纹的风险。

技术领域

本发明属于显示面板技术领域，具体涉及一种显示面板的检测方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

目前显示面板存在Mura现象。Mura指的是，显示面板的显示不均匀现象，其产生原因包括：受到工艺水平、原材料纯度等的影响，不同区域的晶体管的阈值电压或者电子迁移率等电学参数难以保持一致。

为了弥补工艺制程上的瑕疵而产生的Mura现象，一般通过亮度不均匀补偿(以下称为Demura补偿)方式消除Mura现象。

但是，在Demura补偿工艺中，可能因设备载台、夹具以及产品自身差异等问题造成显示面板的平坦度差异较大，相机在拍摄的图像时，由于无法有效识别显示面板的水平信息，使得显示面板的平坦度差异较大时无法对其进行拦截，造成拍摄的图像产生摩尔纹的风险，导致后续Demura补偿工艺出现误补偿，降低了产品的质量。

因此，如何有效识别显示面板的水平信息，以降低拍摄的图像产生摩尔纹的风险，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种显示面板的检测方法、装置、设备和存储介质，以解决现有技术中在进行Demura补偿工艺时无法检测显示面板的水平信息，导致拍摄的图像产生摩尔纹的风险较高的技术问题。

针对上述问题，本发明提供了一种显示面板的检测方法，包括：

获取所述显示面板的显示区的定位信息；

将所述显示区的定位信息与预设的所述显示区的基准定位信息进行比对，得到比对结果；

根据所述比对结果，确定所述显示面板的水平信息。

进一步地，上述所述的显示面板的检测方法中，将所述显示区的定位信息与预设的所述显示区的基准定位信息进行比对，得到比对结果之前，还包括：

获取图像采集设备的分辨率和显示面板的分辨率；

根据所述图像采集设备的分辨率和所述显示面板的分辨率，确定所述显示区的基准定位信息。

进一步地，上述所述的显示面板的检测方法中，所述显示区包括多条边界线；

根据所述图像采集设备的分辨率和所述显示面板的分辨率，确定所述显示区的基准定位信息，包括：

根据所述图像采集设备的分辨率和所述显示面板的分辨率，确定所述显示区每条边界线的起始点坐标和每条边界线的终止点坐标；

根据所述每条边界线的起始点坐标和所述每条边界线的终止点坐标，确定每条边界线的长度；

将所述每条边界线的起始点坐标、所述每条边界线的终止点坐标和每条边界线的长度作为所述显示区的基准定位信息。

进一步地，上述所述的显示面板的检测方法中，所述显示区的形状为平行四边形；所述平行四边形包括第一对边界线和第二对边界线；

根据所述图像采集设备的分辨率和所述显示面板的分辨率，确定所述显示区每条边界线的起始点坐标和每条边界线的终止点坐标，包括：

将所述图像采集设备的分辨率和所述显示面板的分辨率，分别代入预设的坐标计算式中，得到所述第一对边界线的第一起始值、所述第一对边界线的第一终止值、所述第二对边界线的第二起始值和所述第二对边界线的第二终止值；