[发明专利]光谱共焦法实现GRIN透镜厚度的测量方法及测量系统有效
申请号: | 202110641467.4 | 申请日: | 2021-06-09 |
公开(公告)号: | CN113375572B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 李春艳;李庚鹏;刘继红;乔琳 | 申请(专利权)人: | 西安邮电大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 郑丽红 |
地址: | 710121 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 共焦法 实现 grin 透镜 厚度 测量方法 测量 系统 | ||
1.一种光谱共焦法实现GRIN透镜厚度的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、将待测的GRIN透镜放置在测量平台上,并使GRIN透镜的光轴与色散探头的光轴重合;
步骤二、复色白光光源发出宽光谱复色白光,宽光谱复色白光经耦合器传输至色散探头中产生轴向色散,色散探头的出射光波分别在GRIN透镜上表面、GRIN透镜下表面聚焦,GRIN透镜上表面和GRIN透镜下表面分别反射波长为λm、λn的光波,反射光通过色散探头、耦合器到达光谱仪;
步骤三、光谱仪对到达的反射光进行光谱分析,将分析后的光谱数据输送至计算机;
步骤四、光谱数据在计算机上以谱图形式呈现,确定谱图上光强最大的光谱成分的波长,提取峰值波长λm、λn,实现波长的测量;再利用色散探头所建立的波长信息与位置信息间的编码关系,解码得到光谱曲线峰值所对应的焦点位置;
步骤五、通过GRIN透镜折射率、GRIN透镜上、下表面对应的峰值波长对应的焦点位置和建立好的厚度算法,进行运算即得到待测GRIN透镜的厚度;
式中,H为GRIN透镜的厚度,n0为GRIN透镜的轴心折射率,α为折射率分布系数,为GRIN透镜下表面聚焦光线λn的入射角;zλ为色散物镜的各光线聚焦点轴向位置,分别为GRIN透镜上下表面聚焦光线λm、λn在空气中的聚焦点轴向位置。
2.根据权利要求1所述的光谱共焦法实现GRIN透镜厚度的测量方法,其特征在于:步骤三中,光谱仪对到达的反射光进行光谱分析,借助光谱仪内的光学处理进行光线的衍射和汇聚,将汇聚光照射在光谱仪的分光系统上进行光电转换,再利用光谱仪中的光谱信号采集模块进行信号采集、模数转换,将分析后的光谱数据输送至计算机。
3.根据权利要求2所述的光谱共焦法实现GRIN透镜厚度的测量方法,其特征在于:步骤三中,光谱仪对到达的反射光进行光谱分析,借助光谱仪内的平面光栅、凹面反射镜进行光线的衍射和汇聚,将反射出来的汇聚光照射在线阵CCD上进行光电转换,光谱仪中的光谱信号采集模块再进行信号采集、模数转换,将分析后的光谱数据输送至计算机。
4.一种光谱共焦法实现GRIN透镜厚度的测量系统,包括复色白光光源(1)、色散探头(4)、耦合器(3)、光纤(2)、光谱仪(6)和计算机(7);所述耦合器(3)通过光纤(2)分别与复色白光光源(1)、光谱仪(6)和色散探头(4)连接,所述计算机(7)与光谱仪(6)连接;复色白光光源(1)发出宽光谱复色白光,宽光谱复色白光经耦合器(3)传输至色散探头(4)中产生轴向色散,色散探头(4)的出射光波分别在GRIN透镜上表面(521)、GRIN透镜下表面聚焦(522),GRIN透镜上表面(521)和GRIN透镜下表面(522)分别反射波长为λm、λn的光波,反射光通过色散探头(4)、耦合器(3)到达光谱仪(6),光谱仪(6)对到达的反射光进行光谱分析,将分析后的光谱数据输送至计算机(7);计算机(7)对接收到的数据进行处理,得到待测GRIN透镜的厚度;
其特征在于:
所述计算机(7)包括处理器和计算机可读存储介质;所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器运行时执行以下算法,
式中,H为GRIN透镜的厚度,n0为GRIN透镜的轴心折射率,α为折射率分布系数,为GRIN透镜下表面聚焦光线λn的入射角;zλ为色散物镜的各光线聚焦点轴向位置,分别为GRIN透镜上下表面聚焦光线λm、λn在空气中的聚焦点轴向位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安邮电大学,未经西安邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110641467.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。