[发明专利]一种在采样频率控制中具有噪声整形功能的装置

说明书

本发明提供一种在采样频率控制中具有噪声整形功能的装置，包括：第一加法器，用于根据输入信号与第二值之和减去第三值生成第一值；N位量化器，根据所述第一加法器输出的第一值生成并输出码字；控制器，将所述码字映射为调整命令，然后生成对应于该频率调整度的控制信号；频率发生器，根据控制器输出的所述控制信号生成采样频率；映射电路，根据所述码字生成和输出映射值；第二加法器，以所述映射值和所述第一值之差生成所述第二值；第一D触发器，锁存所述第二值；放大器，按照一定比例对所述第二值进行缩放以生成所述第三值，并输出所述第三值至所述第一加法器；第二D触发器，锁存所述第二值并将所述第二值输出至所述第一加法器。

技术领域

本发明涉及采样频率控制领域，具体涉及一种在采样频率控制中具有噪声整形功能的装置。

背景技术

晶体振荡器(例如石英晶体谐振器，Xtal)通常可以用来生成集成电路(例如通信集成电路、音频集成电路或感测集成电路)的采样频率。晶体振荡器生成的采样频率有时不准确，导致集成电路工作异常。

当晶体振荡器生成的采样频率不准确时，现有技术可以通过控制晶体振荡器逐步调整采样频率(例如，现有技术可以利用施加给晶体振荡器的电压来控制晶体振荡器以调整采样频率)，从而生成调整后采样频率，直至该调整后采样频率逐渐接近目标采样频率。例如，当采样频率小于目标采样频率时，现有技术会以1ppm的增量增加采样频率以生成调整后采样频率；而当采样频率大于目标采样频率时，现有技术会以1ppm的减量降低采样频率以生成调整后采样频率。

虽然现有技术可以逐步调整采样频率以生成调整后采样频率直至该调整后采样频率逐渐接近目标采样频率，但是该调整后采样频率在逐渐接近目标采样频率的过程中的非连续变化会引起噪声。因此，如何在调整后采样频率逐渐接近目标采样频率的过程中抑制噪声就是一个采样频率控制中的一个重要问题。

发明内容

本发明提供一种在采样频率控制中具有噪声整形功能的装置，能够抑制采样频率逐渐接近目标采样频率的过程中产生的噪声。

本发明所要解决的技术问题是通过如下技术方案实现的：

本发明提供一种在采样频率控制中具有噪声整形功能的装置(100)，包括：

第一加法器，用于根据输入信号与第二值之和减去第三值生成第一值；

N位量化器，其输入端连接所述第一加法器输出端，用于根据所述第一加法器输出的第一值生成并输出码字；

控制器，其输入端连接所述N位量化器输出端，用于将所述码字映射为调整命令，然后生成对应于该频率调整度的控制信号，与所述N位量化器输出的码字对应的调整命令介于最小预定负值与最大预定正值之间；

频率发生器，其输入端连接所述控制器输出端，用于根据控制器输出的所述控制信号生成采样频率。

映射电路，其输入端连接所述N位量化器输出端，用于根据所述码字生成和输出映射值；

第二加法器，其输入端连接所述第一加法器、所述N位量化器以及所述映射电路，以所述映射值和所述第一值之差生成所述第二值；

第一D触发器，其输入端连接所述第二加法器输出端，用于锁存所述第二值；

放大器，其输入端连接所述第一D触发器输出端，用于按照一定比例对所述第二值进行缩放以生成所述第三值，并输出所述第三值至所述第一加法器；

第二D触发器，其输入端连接所述第一D触发器输出端，用于锁存所述第二值并将所述第二值输出至所述第一加法器；

优选的，所述装置是二阶Σ-Δ调制电路或者高阶Σ-Δ调制电路。

优选的，所述输入信号是目标采样频率与频率发生器生成的当前采样频率的比值。