[发明专利]一种适用于电磁控制元件的非接触式同轴对位方法和装置有效
申请号: | 202110643479.0 | 申请日: | 2021-06-09 |
公开(公告)号: | CN113433890B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 吕娜;刘建梅;杨文超;徐志强;崔璨 | 申请(专利权)人: | 北京航天控制仪器研究所 |
主分类号: | G05B19/19 | 分类号: | G05B19/19 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 徐晓艳 |
地址: | 100854 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 电磁 控制元件 接触 同轴 对位 方法 装置 | ||
本发明公开了一种适用于电磁控制元件的非接触式同轴对位方法和装置,基于被测电磁控制元件定子和转子为圆柱形,依靠端面螺纹安装紧固,利用激光位移传感器进行轴心偏移量的非接触测量,利用X、Z两轴直线位移台实现两个正交方向轴心的对位调整,利用回转台提供同轴对位调整的参照基准。本发明的同轴对位方法可以实现电磁控制元件产品在制造过程中进行性能测试前的同轴对位调整,与现有的工装限位的方法相比能够提高测试前定子和转子的同轴度,实现更加真实、准确的反映电磁控制元件产品的性能,同时避免划伤产品表面。本发明的同轴对位方法也可以用于实现其他圆形产品间的同轴对位调整。
技术领域
本发明涉及一种适用于电磁控制元件的非接触式同轴对位方法和装置,属于同轴对位技术领域。
背景技术
自动控制系统中常用的各类电磁控制元件是基于电磁感应原理将电能转化为机械能或其他动能,电磁控制元件外形一般为圆柱形,由定子、转子(或动子)两部分组成,在进行制造的过程中经常需要对其进行多种性能测试,测试时对定子、转子有较高的同轴度要求。因此,在测试前需要将定子和转子之间进行同轴对位调整,从而提高测试精度。
目前电磁控制元件在进行同轴对位调整时,定子、转子往往依靠端面螺纹紧固安装,两者间的同轴度难以直接检测,传统的方法主要依靠工装限位保证两者同轴,但由于结构件加工公差的存在,同轴度不可避免存在一定误差,导致测试误差大,且依靠工装限位容易划伤产品表面。
发明内容
本发明解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提出一种适用于电磁控制元件的非接触式同轴对位方法和装置,能够有效提高同轴对位调整精度,实现更加真实、准确的反映电磁控制元件产品的性能。
本发明解决技术的方案是:一种电磁控制元件定子和转子的非接触式同轴对位方法,所述电磁控制元件定子和转子为圆柱体,圆柱体的一端端面为安装面,该方法包括如下步骤:
S1、构建对位测试平台,所述对位测试平台包括X轴直线位移台、Z轴直线位移台和回转台,X轴直线位移台能够平行于地面移动,Z轴直线位移台装在X轴直线位移台上且能够垂直于地面移动,回转台安装在Z轴直线位移台上,其回转轴平行于地面,且与X、Z轴直线位移台移动方向相互正交;
S2、将定子固定安装,将转子安装在对位测试平台的回转台上,定子和转子的安装面相互平行且垂直于地面;
S3、采用非接触方式确定定子与回转台的偏离位置,以定子为基准,调整回转台的位置,使得回转台与定子同轴;
S4、采用非接触方式确定转子与回转台的偏心距离和偏移角度,调整回转台和转子的位置,使转子与定子同轴。
优选地,所述步骤S3的具体步骤为:
S3.1、将激光位移传感器从回转台上0°位置引出安装,激光位移传感器激光光束垂直打在定子外圆表面;
S3.2、将回转台带动激光位移传感器旋转,分别测量回转台转至0°、90°、180°、270°位置时,激光位移传感器到定子外圆的距离;
S3.3、移动X轴直线位移台和Z轴直线位移台,使得再次旋转回转台,分别测量回转台转至0°、90°、180°、270°位置时激光位移传感器到定子外圆的距离相等。
优选地,所述步骤S3.3中,X轴直线位移台的移动距离x1为:
其中,d0为回转台转至0°位置时,激光位移传感器到定子外圆的距离;d180为回转台转至180°位置时,激光位移传感器到定子外圆的距离。
优选地,所述步骤S3.3中,Z轴直线位移台的移动距离z1为:
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