[发明专利]一种检测线路结构与检测方法

说明书

本发明提供一种快速定位电路断路位置的检测线路结构和检测方法，通过在蛇形电路的两端设置第一级测试点，以及在第一端子和/或第二端子上设置高级测试位的高层级测试点，通过在蛇形电路的两端以及其他测试点接入具有电势差的电压，进行分级测试，能够快速定位出蛇形电路的故障子线路，其测试次数C≤m*n，其中m为单级的高级测试位中高层级测试点的数量；n为高级测试位的级数，提高了测试效率和准确率。

技术领域

本发明涉及精密电线路设计领域，具体而言，涉及一种检测线路结构与检测方法。

背景技术

现有的显示面板、触控面板、柔性线路板(FPC)、覆晶薄膜(chip on film/COF)的电线路设置越来越精密，如图1所示，所述线路结构包括多条电路1，每条电路1包括有主电路10、和端子11，所述端子11位于所述主电路10的两端，通过所述端子11与其他电子器件电连接，但是由于当前线路间距与线宽已经发展到微米级甚至纳米级，线路容易出现断路，以及相邻的线路之间容易出现短路，需要在将产品投入后段生产前对线路结构进行电性能检测，避免有短路或者断路问题的产品流入后段生产工序。行业内通常使用自动光学检测装置(AOI)及精密探针检测装置对上述产品进行线路检测，AOI设备昂贵，测试洁净度要求非常高，但是对于微米级甚至纳米级线路的误判率还是比较高。精密探针检测装置同样价格昂贵，维护困难，而且对所有线路中的各根线路依次进行检测，耗时很长，甚至出现多次对位不准现象，误判率高。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的主要目的在于提供一种检测线路结构与检测方法，以解决现有技术中检测费时，且误判率高的问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种检测线路结构，包括：多条并排的子线路，每条子线路包括有主线路、第一端子和第二端子，所述第一端子和第二端子分别位于所述主线路的第一端与第二端。本发明的检测线路结构与现有的检测线路的差别在于，还包括多条连接线，通过所述连接线交替电连接相邻的两条子线路的两个第一端子和相邻的两条子线路的两个第二端子，形成蛇形连续的电路，也称蛇形电路。

可选的方案中，在蛇形电路上还设置有可分为数级的测试位，所述测试位包括：第一级测试位与高级测试位，所述第一级测试位包含设于蛇形电路两端的第一级测试点，所述高级测试位包含连接第一端子和/或第二端子的高层级测试点，此处所述高层级测试位包括但不限于第二级测试位。所述第二级测试位中的第二级测试点将第一级测试位点内的蛇形电路分成数片电路区间。

同理，在具体方案中，还可以将所述相邻的第二级测试点之间的电路由数个第三级测试点分成数片电路区间，以此类推，同一级测试位的相邻的高层级测试点100不断分割成更小的电路区间，直至相邻的高层级测试点连接相邻的第一端子或第二端子。需要说明的是，当子线路的条数比较少的时候，可以仅设置第二级测试点，具体高层级测试点的级数需要根据子线路的条数确定。

如果蛇形电路中包含的子线路的条数较多，那么可以在相邻的两个第二级测试点中间还设置更高级别的高级测试位，每级的高级测试位中设有数个高层级测试点，以进行更进一步的划分蛇形电路的分组，这样可以能够缩短测试次数。一般地，蛇形电路中的高层级测试点与线路满足以下关系：S≈mⁿ；其中，S为子线路的数量，m为单级的高级测试位中高层级测试点的数量；n为高级测试位的级数，需要说明的是所述高级测试位包括第二级测试位。

本申请还提供了一种基于上述电路结构用于快速测试电路故障位置的检测方法，包括：

将两个第一级测试点分别连接第一电源与第二电源，第一电源和第二电源具有电势差，比如使用万用表的两个测试探针分别提供第一电源和第二电源；

在电路参数异常时，如电流为零时，即确定该蛇形电路中存在断路情况。

将连接第一级测试点的电源断开后，将相邻的第二级测试点分别连接第一电源与第二电源，在电路参数异常时，即确定该相邻的第二级测试点之间存在断路情况。

可选地，检测方法还包括：