[发明专利]预测页岩微观裂缝发育的方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110644980.9 申请日: 2021-06-09
公开(公告)号: CN113312784B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 张吉振;韩登林;王晨晨;林伟;武倩宇 申请(专利权)人: 长江大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 柏琳容
地址: 430100 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 预测 页岩 微观 裂缝 发育 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种预测页岩微观裂缝发育的方法,其特征在于,包括如下步骤:

获取页岩微观裂缝的历史数据,其中,所述历史数据包括历史页岩微裂缝面孔率以及历史页岩微观裂缝发育的影响因素数据;

根据所述历史数据,建立页岩微观裂缝面孔率与页岩微观裂缝发育的影响因素之间的映射关系方程式,以得到微观裂缝孔隙度预测模型;

获取实时页岩微观裂缝发育的影响因素数据,根据所述微观裂缝孔隙度预测模型预测页岩微观裂缝面孔率,以实现页岩微观裂缝的发育预测;

所述页岩微观裂缝发育的影响因素至少包括脆性指数、有机质丰度、石英颗粒粒径分布值、页岩总孔隙度以及孔隙分形维数;

当所述石英颗粒粒径分布值小于1时,所述微观裂缝孔隙度预测模型为:

ɸFrac=-0.746+0.38×TOC+0.193×BI-0.058×Q20+/Q20-+0.018×ɸRock+0.279×DB

当所述石英颗粒粒径分布值不小于1时,所述微观裂缝孔隙度预测模型为:

ɸFrac=0.791+0.348×TOC+0.338×BI-0.059×Q20+/Q20--0.044×ɸRock-0.434×DB

其中,ɸFrac表示页岩微观裂缝面孔率,TOC表示有机质丰度,BI表示脆性指数,Q20+/Q20-表示石英颗粒粒径分布值,ɸRock表示页岩总孔隙度,DB表示孔隙分形维数。

2.根据权利要求1所述的预测页岩微观裂缝发育的方法,其特征在于,利用SPSS工具,建立所述页岩微观裂缝面孔率与页岩微观裂缝发育的影响因素之间的映射关系方程式,以得到微观裂缝孔隙度预测模型。

3.根据权利要求1所述的预测页岩微观裂缝发育的方法,其特征在于,还包括:

对所述微观裂缝孔隙度预测模型的可靠性和有效性进行验证。

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