[发明专利]一种基于空-谱特征联合的遥感影像监督分类方法在审

专利信息
申请号: 202110645026.1 申请日: 2021-06-09
公开(公告)号: CN113378924A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 吕志勇;杨萱;孔祥兵;李广飞;王锋军 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 燕肇琪
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 特征 联合 遥感 影像 监督 分类 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于空‑谱特征联合的遥感影像监督分类方法,具体按照以下步骤实施:步骤1、输入影像,以中心像素构建无参自适应区域;步骤2、计算自适应区域内各个光谱波段的特征均值;计算自适应区域内各个波段的空间特征;步骤3、将得到的光谱特征和空间特征进行特征叠加,得到该像素点自适应区域的联合特征;步骤4、逐像素点遍历整张影像,得到所有像素联合后的特征向量,使用SVM分类器进行分类,得到最终的分类影像,完成遥感影像监督分类。解决了现有技术中存在的则尺度获取空间信息不准确的问题。

技术领域

本发明属于高分遥感影像分类技术领域,涉及一种基于空-谱特征联合的遥感影像监督分类方法。

背景技术

近年来,随着遥感技术的不断发展,海量的高分影像被获取,通过对高分影像的高精度解译,对现代军事、精准农业、城市规划、地籍调查以及自然灾害监测等诸多领域提供重要的科学意义与实际价值。高分影像蕴含丰富的空间信息,使得地物表面结构更加精细,空间拓扑关系更加清晰。但与此同时,也使得噪声像素增多,光谱波段减少,“同物异谱”与“异物同谱”等现象频频发生,使得地物类内方差变大,类间方差变小,光谱域统计可分性降低。因此也为模式识别、多目标识别领域带来了诸多挑战。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于空-谱特征联合的遥感影像监督分类方法,解决了现有技术中存在的则尺度获取空间信息不准确的问题。

本发明所采用的技术方案是,一种基于空-谱特征联合的遥感影像监督分类方法,具体按照以下步骤实施:

步骤1、输入影像,以中心像素构建无参自适应区域;

步骤2、计算自适应区域内各个光谱波段的特征均值;计算自适应区域内各个波段的空间特征;

步骤3、将得到的光谱特征和空间特征进行特征叠加,得到该像素点自适应区域的联合特征;

步骤4、逐像素点遍历整张影像,得到所有像素联合后的特征向量,使用SVM分类器进行分类,得到最终的分类影像,完成遥感影像监督分类。

本发明的特点还在于:

步骤1具体按照以下实施:对输入的影像,以像素(Pixel)为中心通过3×3大小的窗口,获取中心像素周围的邻域像素,计算窗口内邻域像素的均值(Avg)和方差(Std),以(‖Avg-Std‖≤Pixel≤‖Avg+Std‖)为约束条件不断搜索邻域像素,构建一个无参自适应区域。

步骤2中计算自适应区域内各个光谱波段的特征均值具体按照以下实施:由构成一个影像对象的所有n个像素的图层值计算得到图层平均值。

其中,PLi表示波段上第i个像素点的像素值;特征值的范围为:[0;与数据的比特位数对应]。

步骤2计算自适应区域内各个波段的空间特征中的空间特征包括密度、长宽比、形状指数。

步骤2计算自适应区域内各个波段的空间特征具体按照以下实施:使用密度来描述影像对象的紧致程度。在像素栅格的图形中理想的紧致形状是一个正方形。一个影像对象的形状越接近正方形,它的密度就越高。

其中,D表示密度。特征值范围:[0;与影像对象的形状对应];

由于影像对象多为不规则形状,因此,对象长宽比通常由协方差矩阵较大特征值与较小特征值的比值计算得来;

其中,γ表示长宽比,eig1(S)为协方差矩阵特征值中较大的一个,eig2(S)则为协方差矩阵较小的特征值;特征值范围:[0;1];

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学,未经西安理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110645026.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top