[发明专利]一种自动测量ESD管压降的电路

说明书

本发明提供了一种自动测量ESD管压降的电路，包括：MCU控制器，所述MCU控制器包括USB转UART通信模块，所述MCU控制器的输出端连接于上位机的输入端，所述USB转UART通信模块的输入端连接于所述上位机的输出端，所述USB转UART通信模块的输出端连接于所述MCU控制器的输入端；译码器，所述译码器的输入端连接于所述MCU控制器的信号输出端，所述译码器用于转换信号；继电器模块，所述继电器模块连接于所述译码器的输出端，所述继电器模块连接于万用表的负极和ESD管的阴极之间，所述万用表的正极连接于所述ESD管的阳极，所述继电器模块用于控制所述万用表的负极和ESD管的阴极之间的接触状态。本发明设计巧妙，提升了测量效率，且提升了测量、记录数据的准确性。

技术领域

本发明涉及电路领域，更具体的说是，涉及一种自动测量ESD管压降的电路。

背景技术

芯片管脚的ESD二极管，对于芯片是一个非常重要的保护，可以避免芯片受到外部高压静电击穿而损坏。每款芯片设计初期的样品，都需要进行ESD二极管的功能及性能的测试。在进行ESD测试之前，必须先将管脚间的ESD二极管的导通压降测量出来，待ESD测试后，再次测量ESD二极管的导通压降，然后进行对照比较，作为判断ESD二极管功能和性能的一个判定参考数据。

芯片在做ESD静电击穿实验的功能和性能验证时，需要较多的芯片样品，并且往往需要多次实验。传统上是通过人工手动用万用表测量ESD的管压降并记录数值，做完相应的静电击穿实验后，再次测量ESD的管压降并记录数值，这样在人力和时间上耗费较多。

发明内容

本发明的目的是提供一种自动测量ESD管压降的电路。

本发明要解决的是现有测量ESD管压降过程中存在的问题。

与现有技术相比，本发明技术方案及其有益效果如下：

一种自动测量ESD管压降的电路，包括：MCU控制器，所述MCU控制器包括USB转UART通信模块，所述MCU控制器的输出端连接于上位机的输入端，所述USB转UART通信模块的输入端连接于所述上位机的输出端，所述 USB转UART通信模块的输出端连接于所述MCU控制器的输入端；译码器，所述译码器的输入端连接于所述MCU控制器的信号输出端，所述译码器用于转换信号；继电器模块，所述继电器模块连接于所述译码器的输出端，所述继电器模块连接于万用表的负极和ESD管的阴极之间，所述万用表的正极连接于所述ESD管的阳极，所述继电器模块用于控制所述万用表的负极和ESD管的阴极之间的接触状态；其中，所述上位机与所述万用表通讯连接，所述MCU控制器通过所述译码器控制所述继电器模块，所述继电器模块通过控制所述万用表的负极和所述ESD管之间的接触状态，通过所述万用表测量得到所述ESD管的压降数值，并发送数值数据至所述上位机。

作为进一步改进的，所述MCU控制器的信号输出端为IO信号端。

作为进一步改进的，所述译码器为38译码器。

作为进一步改进的，所述译码器的型号为74HC138。

作为进一步改进的，所述MCU控制器的型号为STC/IAP15F2K612S-35I。

作为进一步改进的，所述上位机和所述万用表之间采用USB连接。

作为进一步改进的，所述上位机为电脑。

本发明的有益效果为：采用上位机、MCU控制器、译码器、继电器模块和万用表之间的配合，实现了MCU控制器通过译码器控制继电器模块，而继电器模块通过控制所述万用表的负极和所述ESD管之间的接触状态，通过所述万用表测量得到所述ESD管的压降数值，并发送数值数据至所述上位机，实现自动测量ESD管的压降，提升了测量效率，且提升了测量、记录数据的准确性。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种自动测量ESD管压降的电路的电路结构示意图。