[发明专利]一种基于红外热像仪测量30～90℃材料表面辐射率的方法

权利要求书

1.基于红外热像仪测量30～90℃材料表面辐射率方法的主要依据：

1)红外热像仪内部的探测器捕获物体辐射的红外能量，并将红外能量转化为与之相对应的电信号，电信号经过内部电路处理转化成易于人眼识别的光信号并在显示器上显示出来。

2)红外热像仪测量的温度与物体表面辐射率成一一对应关系，只有已知物体表面辐射率时，红外热像仪测量的温度才是准确的。

2.一种基于红外热像仪测量30～90℃材料表面辐射率的方法，其特征在于：所述方法由以下五步组成：

第一步)将电工绝缘胶带贴于被测样品上，将被测样品放置于水冷恒温平台上。

第二步)手动设置水冷恒温平台温度。

第三步)使用红外热像仪测量电工绝缘胶带的温度，并作记录。

第四步)使用红外热像仪测量样品的温度，调节红外热像仪的辐射率使红热像仪显示温度与记录的电工绝缘胶带温度相同，此时红外热像仪辐射率为水冷恒温平台设置温度下被测样品表面辐射率。

第五步)调节水冷恒温平台温度，重复第二步～第五步，测量40～90℃材料表面辐射率。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：

本发明所提方法可用于简单快速测量30～90℃范围内材料表面辐射率，避免了购买昂贵试验设备、搭建复杂试验测量系统以及对样品进行处理的麻烦。只使用红外热像仪、电工绝缘胶带以及水冷恒温平台即可完成材料表面辐射率测量，并同时保证试验结果的准确性。