[发明专利]一种球面天线近场校准与扫描方法、系统及终端在审

专利信息
申请号: 202110648947.3 申请日: 2021-06-10
公开(公告)号: CN113447730A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 余浪;吴曈;汪渊;邓方科;李冬;杨迅 申请(专利权)人: 成都华芯天微科技有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 张巨箭
地址: 610000 四川省成都市中国(四川)自由*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 球面 天线 近场 校准 扫描 方法 系统 终端
【权利要求书】:

1.一种球面天线近场校准与扫描方法,其特征在于:所述方法包括通道校准步骤,具体包括:

获取球面天线中各通道在球面上的空间坐标及朝向信息;

根据所述空间坐标及朝向信息计算各通道与六轴机械臂的球坐标映射关系,进而控制携带有测试探头的六轴机械臂运动至球面天线各通道;

采集六轴机械臂运动至球面天线对应通道时的幅相数据,直至完成所有通道的幅相数据采集,得到幅相数据补偿表;

根据所述幅相数据补偿表在波束合过程中对相应的通道进行幅度、相位补偿处理。

2.根据权利要求1所述球面天线近场校准与扫描方法,其特征在于:所述采集六轴机械臂运动至球面天线对应通道时的幅相数据具体包括:

产生测试信号,测试信号经测试探头辐射至球面天线,采集球面天线接收的测试信号,进而实现幅相数据的采集,或者:

产生测试信号,测试信号经球面天线辐射至测试探头,采集测试探头接收的测试信号,进而实现幅相数据的采集。

3.根据权利要求1所述球面天线近场校准与扫描方法,其特征在于:所述通道校准步骤还包括通道互耦及空间干扰去除子步骤,具体包括:

产生具有第一幅度相位值的测试信号并输入至当前通道,采集当前通道反馈测试信号中的第一幅相值数据a;

产生具有第二幅度相位值的测试信号并输入至当前通道,采集当前通道反馈的测试信号的第二幅相值数据b,且第二幅度相位值为第一幅度相位值的反向状态,则当前通道的真实幅相数据a1为:

4.根据权利要求1所述球面天线近场校准与扫描方法,其特征在于:所述通道校准步骤还包括通道诊断子步骤,具体包括:

产生通道测试信号并输入至待测通道,所述通道测试信号为幅度值保持不变,相位值以步长n递增的多个测试信号;

分析待测通道反馈的多个测试信号,若待测通道反馈的多个测试信号的幅度值相同且相位值以步长n递增,待测通道正常,反之,待测通道异常。

5.根据权利要求1所述球面天线近场校准与扫描方法,其特征在于:所述方法还包括球面扫描步骤,具体包括:

控制六轴机械臂携带测试探头沿球面天线进行经度方向的圆形运动,并以步进Δθ采集球面天线当前的幅相数据;

控制安装有球面天线的一维转台进行纬度方向的旋转运动,并以步进采集球面天线当前的幅相数据;

重复上述两个步骤,直至完成经度方向、纬度方向的全扫描,获得球面天线全方向的测试数据。

6.根据权利要求5所述球面天线近场校准与扫描方法,其特征在于:所述获得球面天线全方向的测试数据后还包括:

将球面天线全方向的测试数据进行球面波展开,实现球面天线测试方向图的绘制。

7.一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机指令,其特征在于:所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1-7任意一项所述球面天线近场校准与扫描方法的步骤。

8.根据权利要求1-6任意一项所述一种球面天线近场校准与扫描方法的系统,其特征在于:所述系统包括屏蔽暗室,还包括设于屏蔽暗室的六轴机械臂、一维转台、控制与数据处理子系统和矢量网络分析仪,所述六轴机械臂上携带有测试探头,一维转台上安装有球面天线;

所述测试探头、球面天线均与矢量网络分析仪连接,矢量网络分析仪、球面天线、六轴机械臂、一维转台与控制与数据处理子系统连接。

9.根据权利要求8所述系统,其特征在于:所述屏蔽暗室上铺设有吸波材料,吸波材料长度大于等于1/2倍球面天线的最长波长。

10.根据权利要求8所述系统,其特征在于:所述系统还包括测试接口盒,测试接口盒上集成有射频接口、控制接口,所述球面天线经射频接口与矢量网络分析仪连接,球面天线经控制接口与控制与数据处理子系统连接。

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