[发明专利]一种星载微系统模块的静态总剂量试验方法和系统

权利要求书

1.一种星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，包括如下步骤：

基于微系统模块自身结构及微系统模块内的芯片结构，将微系统模块对外管脚进行区分，得到电源管脚和信号管脚，分别对电源管脚和信号管脚进行分析；

基于电源管脚和信号管脚的属性，进行静态偏置设计，静态偏置设计具体是对电源管脚施加拉偏电压激励，同时对信号管脚施加上下拉激励；

基于《宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法》，对静态偏置设计后的微系统模块进行总剂量试验。

2.根据权利要求1所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，电源管脚包括供电管脚和地管脚；

信号管脚包括普通输入信号管脚、带上拉输入信号管脚、带下拉输入信号管脚、带上拉输入输出双向信号管脚、带下拉输入输出信号管脚、输出信号管脚。

3.根据权利要求2所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，对电源管脚施加拉偏电压激励具体为：

供电管脚上拉典型供电值的5％～10％。

4.根据权利要求1所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，对电源管脚施加拉偏电压激励具体为：基于微系统模块的使用手册选取供电电压的最大值。

5.根据权利要求1所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，对信号管脚施加上下拉激励是通过电阻进行的上下拉激励；

上拉是将电阻上拉至对应的电源电压，下拉是将电阻下拉至对应的地。

6.根据权利要求2所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，静态偏置设计过程中，对于输出信号管脚不做配置，保持悬空状态。

7.一种星载微系统模块的静态总剂量试验系统，其特征在于，包括

分析单元，用于基于微系统模块自身结构及微系统模块内的芯片结构，将微系统模块对外管脚进行区分，得到电源管脚和信号管脚，分别对电源管脚和信号管脚进行分析；

静态偏置设计单元，与分析单元相交互，用于基于电源管脚和信号管脚的属性，进行静态偏置设计，静态偏置设计具体是对电源管脚施加拉偏电压激励，同时对信号管脚施加上下拉激励；

试验单元，与静态偏置设计单元相交互，基于《宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法》，对静态偏置设计后的微系统模块进行总剂量试验。

8.根据权利要求7所述的星载微系统模块的静态总剂量试验系统，其特征在于，静态偏置设计单元具体包括辐照试验板、供电采集板和测试PC机；

辐照试验板用于承载微系统模块以及为微系统模块提供静态偏置；

供电采集板与辐照试验板相交互，用于为微系统模块提供电源电压；

测试PC机分别与供电采集板和辐照试验板相交互，用于获取并显示供电采集板中的电流采集数据，对获取的电流采集数据进行处理后对辐照试验板发出指令。

9.根据权利要求8所述的星载微系统模块的静态总剂量试验系统，其特征在于，供电采集板包括供电芯片和与供电芯片电连接的电流采集芯片，供电芯片与辐照试验板电连接；

供电芯片将辐照室外的稳压源提供的一次电源转换成二次电源，为微系统模块提供电源电压，通过改变供电芯片配置电阻(电位器)的阻值，为微系统模块提供不同电压值的电压；

电流采集芯片内部设有处理器，通过采集精密电阻两端的电压，实时采集微系统供电电压的电流。

10.根据权利要求8所述的星载微系统模块的静态总剂量试验系统，其特征在于，静态偏置设计单元还包括稳压源，用于为供电采集板提供一次电源。