[发明专利]一种线结构光的中心提取方法及锻件三维测量方法在审

专利信息
申请号: 202110652167.6 申请日: 2021-06-11
公开(公告)号: CN113324478A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 余永维;杜柳青;孙兆军;王康 申请(专利权)人: 重庆理工大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/25
代理公司: 重庆企进专利代理事务所(普通合伙) 50251 代理人: 周辉
地址: 400054 重庆市*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 结构 中心 提取 方法 锻件 三维 测量方法
【说明书】:

发明公开了一种线结构光的中心提取方法及锻件三维测量方法,其中,线结构光的中心提取方法包括如下步骤,先对采集的具有线结构光条纹的图像进行滤波和阈值分割,分割出线结构光的光条特征,再提取线结构光条纹的初始中心点p(x,y),以初始中心点p(x,y)为中点,采用方向模板法确定每个初始中心点的法线方向,并在每个初始中心点的法线方向上采用灰度重心法进行中点提取,提取精确中心点。本发明的线结构光的中心提取方法具有精度高、稳定性好等优点,本发明的锻件三维测量方法具有检测精度高等优点。

技术领域

本发明涉及检测测量技术领域,特别的涉及一种线结构光的中心提取方法及锻件三维测量方法。

背景技术

随着现代制造业水平的发展,产品中大量不规则曲面都需要进行三维测量,以进行检测和验证。而锻件作为重大装备的重要部件,其三维尺寸是衡量加工质量的重要指标,所以对锻件三维尺寸的精确测量不仅是评价锻件质量是否合格,也为后期的设计改善提供了重要的反馈信息,促进加工工艺的优化。传统的激光扫描仪、三坐标测量仪成本昂贵。双目相机三维测量受工作环境影响导致测量稳定性差。

线结构光视觉测量是结合激光扫描和视觉处理技术的非接触测量,具有测量精度高、稳定性强、实时性和通用性的优点,成为国内外解决三维测量问题中的研究热点。许多学者都是通过改进线结构光条纹中心提取算法,精确提取出光条纹的亚像素坐标,进而提高三维测量精度。

然而,线结构光投射到待测物体表面后,会存在一定的宽度,从而造成测量误差,如何准确提取线结构光的中心成为亟待解决的问题。

发明内容

针对上述现有技术的不足,本发明所要解决的技术问题是:如何提供一种精度高、稳定性好的线结构光的提取方法,以及提高检测精度的锻件三维测量方法。

为了解决上述技术问题,本发明采用了如下的技术方案:

一种线结构光的中心提取方法,其特征在于,包括如下步骤:先采集的具有线结构光条纹的图像进行滤波和阈值分割,分割出线结构光的光条特征;对光条特征中的每个像素点进行二值化处理,初步提取初始中心点p(u,v);以提取的初始中心点作为中心,对于每个初始中心点,采用方向模板法确定该初始中心点的法线方向;在每个初始中心点的法线方向上采用灰度重心法进行中点提取,提取精确的中心点。

进一步的,所述初始中心点p(u,v)的提取步骤如下:

对光条特征中的每个像素点进行二值化处理,将各像素点的灰度值与光条特征提取的阈值T进行比较,大于阈值T的像素点标记为1,否则标记为0;对每个像素点P1进行逐点扫描,若该像素点P1标记为1,则对该像素点P1相邻的8个像素点P2,P3,...,P9进行如下判断,像素点P2,P3,...,P9沿像素点P1的顺时针方向依次设置,若满足下式:

则将该像素点P1删除,并将保留的像素点P1作为初始中心点p(u,v)进行提取,式中N(P1)是P2,P3,...,P9中标记为1的个数,S(P1)表示P2,P3,...,P9,P2序列中标记满足0-1顺序排列的累计次数。

进一步的,确定初始中心点的法线方向的步骤如下:

以提取的初始中心点作为中心,将线结构光光条的灰度图像做如下运算:

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