[发明专利]α粒子发射率测试方法

权利要求书

1.一种α粒子发射率测试方法，其特征在于，包括：

获取测试样品；

对测试设备的背底噪声进行调试，使得所述测试设备的α粒子发射率小于设定值；

利用完成调试的所述测试设备对所述测试样品进行α粒子发射率测试，并对测试到的α粒子进行计数；

当所述α粒子的计数达到目标计数时结束测试，并获取测试数据；

对所述测试数据进行分析和处理。

2.根据权利要求1所述的α粒子发射率测试方法，其特征在于，所述测试设备包括样品托盘，所述对测试设备的背底噪声进行调试，使得所述测试设备的α粒子发射率小于设定值包括：

对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试，获取所述样品托盘的α粒子发射率；

将所述样品托盘的α粒子发射率与所述设定值进行比较；

若所述样品托盘的α粒子发射率小于所述设定值，则结束对测试设备的背底噪声的调试操作；

若所述样品托盘的α粒子发射率大于等于所述设定值，则对所述样品托盘进行降噪处理，直至所述样品托盘的α粒子发射率小于所述设定值。

3.根据权利要求2所述的α粒子发射率测试方法，其特征在于，所述对所述测试设备的样品托盘进行α粒子发射率背底测试，获取所述样品托盘的α粒子发射率包括：

获取对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间，并获取所述样品托盘的表面积；

根据所述样品托盘的表面积、对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间，获取所述样品托盘的α粒子发射率。

4.根据权利要求3所述的α粒子发射率测试方法，其特征在于，所述根据所述样品托盘的表面积、对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数和测试时间，获取所述样品托盘的α粒子发射率包括：

根据表达式计算所述样品托盘的α粒子发射率；

式中，R_t为所述样品托盘的α粒子发射率，单位为/cm²/hr，N₀为对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的粒子计数，T₀为对所述样品托盘进行α粒子发射率背底测试时的测试时间，单位为hr，S_t为所述样品托盘的表面积，单位为cm²。

5.根据权利要求1或2所述的α粒子发射率测试方法，其特征在于，所述测试数据包括粒子计数、α粒子发射能谱。

6.根据权利要求5所述的α粒子发射率测试方法，其特征在于，所述对所述测试数据进行分析和处理包括：

甄别所述α粒子发射率测试中得到的所述α粒子的发射源，确定所述发射源为所述测试样品的粒子计数；

获取所述测试样品的表面积、所述测试样品在α粒子发射率测试中的粒子计数和测试时间；

根据所述测试样品的表面积、所述测试样品在α粒子发射率测试中的粒子计数和测试时间，获取所述测试样品的α粒子发射率；

根据测量得到的所述测试样品的α粒子发射能谱，判断所述测试样品的材料内部的α粒子放射源。

7.根据权利要求6所述的α粒子发射率测试方法，其特征在于，所述根据所述测试样品的表面积、所述测试样品在α粒子发射率测试中的粒子计数和测试时间，获取所述测试样品的α粒子发射率包括：

根据表达式计算所述测试样品的α粒子发射率；

式中，R_s为所述测试样品的α粒子发射率，单位为/cm²/hr，N₁为所述测试样品在α粒子发射率测试中的粒子计数，T₁为对所述测试样品在α粒子发射率测试中的测试时间，单位为hr，S_s为所述测试样品的表面积，单位为cm²。