[发明专利]光电参数多应力在线测试平台

说明书

本发明公开了光电参数多应力在线测试平台，包括振动台、多应力加载机构和积分球；振动台用于为整个测试平台加载振动应力；积分球用于测量光电参数；多应力加载机构包括圆形温控台、积分球连接部件、铝基电路板和旋转分光器；圆形温控台的一端与振动台的动力输出端连接，圆形温控台的另一端贴壁设置铝基电路板，在与铝基电路板相对处设置旋转分光器，旋转分光器动力连接旋转步进电机，由旋转步进电机带动旋转分光器旋转；旋转分光器配有移动步进电机，用于调节旋转分光器与铝基电路板之间的距离；积分球连接部件套装在圆形温控台外部且与积分球的窗口连接，铝基电路板、旋转分光器均置于积分球内部，本平台可完成温度、振动、电流的完全耦合加载的在线测量LED光电参数。

技术领域

本发明属于测试技术领域，尤其是一种针对LED光电参数测量的小型多应力复合加载在线测试系统。

背景技术

对于理论寿命25000小时的半导体发光二极管(light emitting diode，LED)来说，采用传统照明产品的寿命试验方法，LED照明产品需要进行不少于6000小时的测试，并且每隔1000小时在环境温度25℃，额定电流(电压)条件下记录光度学参数，这显然是对质检机构和生产厂家人力、物力、财力的极大损耗。为了缩短寿命试验时间，加速寿命试验在不改变失效机理的条件下，用加大应力的方法加快产品的老化，从而在短时间内获得产品的失效信息，进而外推出其在正常应力条件下的寿命特征。

加速寿命试验的加速应力可以是温度、电流、振动等等因素，现有加速寿命测试平台大都采用的是非在线测量方式，也就是，LED样品在应力加速装置中加速老化，每个加速应力水平的老化完成后，都要将样品从加速老化装置中取下，在正常工作条件下冷却2小时，到光电参数测试设备中，测试加载应力后LED光色电参数的变化量(这里的测量参数可以是光通量，色温，结温，色漂移等)，光色电参数测试完成后，该LED样品再回到加速应力设备中进入下一个加速老化周期，直到在测量参数中找到产生明显改变的数据点，以此预测该样品的寿命。这样的测试方法，从模拟LED的老化来说，LED的老化过程不时中断，存在原理误差；另外，加速应力装置与光电参数测试设备分离，在光电测试设备上难以直接完成被测LED芯片完全的多应力耦合。

发明内容

为了解决现有技术中存在的不足，本发明提出了一种光电参数多应力在线测试平台，可以完成温度、振动、电流的完全耦合加载的在线测量LED光电参数。

本发明所采用的技术方案如下：

光电参数多应力在线测试平台，包括振动台、多应力加载机构和积分球；所述振动台用于为整个测试平台加载振动应力；所述积分球用于测量光电参数；所述多应力加载机构包括圆形温控台、积分球连接部件、铝基电路板和旋转分光器；圆形温控台的一端与振动台的动力输出端连接，圆形温控台的另一端贴壁设置铝基电路板，在与铝基电路板相对处设置旋转分光器，旋转分光器动力连接旋转步进电机，由旋转步进电机带动旋转分光器旋转；所述旋转分光器配有移动步进电机，用于调节旋转分光器与铝基电路板之间的距离；所述积分球连接部件套装在圆形温控台外部且与积分球的窗口连接，铝基电路板、旋转分光器均置于积分球内部。

进一步，在铝基电路板上沿周向均匀安装n个LED芯片。

进一步，在旋转分光器与铝基电路板相对的侧面上沿圆周方向阵列设置n-1个盲孔和1个通孔，且这些孔与铝基电路板上待检测的LED芯片相对设置。

进一步，所述圆形温控台内部，装有热阻丝，热阻丝通过导线连接控温器，通过控温器向圆形温控台加载一定的热量，用于模拟为LED芯片加载温度应力。

进一步，LED芯片通过导线连接电流控制器，由电流控制器控制LED芯片电流大小，用于模拟为LED芯片加载电流应力。

进一步，旋转分光器呈圆盘状，且在旋转分光器的中心位置开有连接孔，通过该连接孔实现旋转分光器与旋转步进电机的动力输之间的连接，进而实现旋转步进电机和旋转分光器之间的动力传输。