[发明专利]一种新型全光学原子磁强计实现装置有效
申请号: | 202110657872.5 | 申请日: | 2021-06-11 |
公开(公告)号: | CN113253165B | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 蒋双辉;李松松;张奕;祝孝杰;田原;顾思洪;陈杰华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 | 代理人: | 李鹏 |
地址: | 430071 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 光学 原子 磁强计 实现 装置 | ||
1.一种新型全光学原子磁强计实现装置,包括分布式反馈半导体激光器(1),其特征在于,分布式反馈半导体激光器(1)发射的初始线偏光(2)经过光斑整形器(3)产生圆形光斑线偏光(4),分时调制系统周期性向电光调制器(5)输入微波信号,圆形光斑线偏光(4)通过电光调制器(5)调制后产生调制线偏光(6),调制线偏光(6)经扩束器(7)后获得扩束线偏光(8),扩束线偏光(8)通过偏振片(9)选偏为偏振面旋转线偏光(10)后再经过四分之一波片(11)产生椭圆偏振光(12),椭圆偏振光(12)通过衰减器(13)衰减后产生光强衰减后的椭圆偏振光(14)入射到原子气室(15)与原子相互作用后产生原子气室出射光(16),原子气室出射光(16)入射偏振分光棱镜(17)并经过偏振分光棱镜(17)分束为偏振方向互相垂直的第一待测线偏光(18)和第二待测线偏光(20),第一待测线偏光(18)和第二待测线偏光(20)分别由第一探测器(19)和第二探测器(21)探测。
2.根据权利要求1所述的一种新型全光学原子磁强计实现装置,其特征在于,所述的分时调制系统包括微波源(22)、微波开关(24)、信号发生器(28)、以及微波功率放大器(26),
信号发生器(28)产生方波信号(29),通过方波信号(29)的高电平触发微波开关(24)连通时,微波源(22)产生微波信号(23)通过微波开关(24)后形成待放大微波信号(25),待放大微波信号(25)入射微波功率放大器(26)产生功率放大微波信号(27),功率放大微波信号(27)注入电光调制器(5)进行频率调制;信号发生器(28)产生的方波信号(29)的低电平触发微波开关(24)断开时,微波源(22)产生的微波信号(23)无法注入电光调制器(5)调制。
3.根据权利要求2所述的一种新型全光学原子磁强计实现装置,其特征在于,所述的初始线偏光(2)为单色线偏光,圆形光斑线偏光(4)、调制线偏光(6)、扩束线偏光(8)、偏振面旋转线偏光(10)、椭圆偏振光(12)以及光强衰减后的椭圆偏振光(14)均为圆形光斑。
4.根据权利要求2所述的一种新型全光学原子磁强计实现装置,其特征在于,所述的椭圆偏振光(12)中线偏光分量和圆偏光分量各占一半,椭圆偏振光(12)的椭圆的长轴方向与偏振分光棱镜(17)的透光轴方向成45度角。
5.根据权利要求2所述的一种新型全光学原子磁强计实现装置,其特征在于,所述的圆形光斑线偏光(4)为频率为f0的单色线偏光,方波信号(29)的高电平触发微波开关(24)连通时,频率为f0的圆形光斑线偏光(4)经电光调制器(5)调制为含频率f+1和f-1正负一阶边带的双色线偏光作为调制线偏光(6);方波信号(29)的低电平触发微波开关(24)断开时,圆形光斑线偏光(4)通过电光调制器(5)、四分之一波片(11)转换的椭圆偏振光(12)为单色线偏光。
6.根据权利要求5所述的一种新型全光学原子磁强计实现装置,其特征在于,方波信号(29)的低电平触发微波开关(24)断开时,光强衰减后的椭圆偏振光(14)中的与原子气室(15)内原子跃迁线对称失谐Δf/2的线偏光分量进行极化探测;方波信号(29)的高电平触发微波开关(24)连通时,光强衰减后的椭圆偏振光(14)中的圆偏光分量作为调制抽运光,Δf=f+1-f-1。
7.根据权利要求2所述的一种新型全光学原子磁强计实现装置,其特征在于,所述的微波信号(23)的频率的两倍与原子气室(15)内原子跃迁线基态超精细能级间的跃迁频率相等。
8.根据权利要求2所述的一种新型全光学原子磁强计实现装置,其特征在于,所述的方波信号(29)的频率与原子气室(15)中原子在待测磁场中的拉莫尔进动频率fL相等。
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